Wyszukiwanie zaawansowane

Wyniki wyszukiwania: 11.

Wyniki
		Wpływ łączenia skanów na dokładność pomiaru skanerem optycznym / Robert Koteras ; Politechnika Poznańska. Wydział Budowy Maszyn i Zarządzania. Instytut Technologii Mechanicznej. Zakład Metrologii i Systemów Pomiarowych. autor Koteras Robert [Autor] Wieczorowski, Michał [Promotor] Politechnika Poznańska. Wydział Budowy Maszyn i Zarządzania [Instytucja sprawcza] Rodzaj materiału: Tekst; Format: druk ; Forma literacka: Tekst nieliteracki Język: polski Język streszczenia: niemiecki, polski Szczegóły wydania: Poznań, 2018 Uwaga dotycząca dysertacji: Rozprawa doktorska. Politechnika Poznańska, 2017. Zasoby online: Kliknij tutaj, aby uzyskać dostęp online Status: Egzemplarze dostępne do wypożyczenia: Biblioteka Politechniki Poznańskiej (1)Lokalizacja, sygnatura: w czytelni DrOIN 1908.
		Kompensacja wpływu warunków termicznych na profilometryczne pomiary nierówności powierzchni = Compensation of thermal conditions influence on the profilometric surface asperities measurement / Karol Grochalski ; Politechnika Poznańska. Wydział Budowy Maszyn i Zarządzania. Instytut Technologii Mechanicznej. Zakład Metrologii i Systemów Pomiarowych. autor Grochalski Karol [Autor] Wieczorowski, Michał [Promotor] Gapiński, Bartosz, (1977- ) [Promotor] Politechnika Poznańska. Wydział Budowy Maszyn i Zarządzania [Instytucja sprawcza] Rodzaj materiału: Tekst; Format: druk ; Forma literacka: Tekst nieliteracki Język: polski Język streszczenia: angielski, polski Szczegóły wydania: Poznań, 2018 Uwaga dotycząca dysertacji: Rozprawa doktorska. Politechnika Poznańska, 2018. Inny tytuł: Compensation of thermal conditions influence on the profilometric surface asperities measurement Zasoby online: Kliknij tutaj, aby uzyskać dostęp online Status: Egzemplarze dostępne do wypożyczenia: Biblioteka Politechniki Poznańskiej (1)Lokalizacja, sygnatura: w opracowaniu DrOIN 1932.
		Stereometryczna ocena porównawcza powierzchni przy zastosowaniu różnych układów odniesienia profilometrów / Michał Wieczorowski ; [Politechnika Poznańska]. autor Wieczorowski, Michał Rodzaj materiału: Tekst; Format: druk ; Forma literacka: Tekst nieliteracki Język: polski Szczegóły wydania: Poznań : PP, [1996] Uwaga dotycząca dysertacji: Rozprawa doktorska. Politechnika Poznańska, [1996]. Status: Egzemplarze dostępne do wypożyczenia: Biblioteka Politechniki Poznańskiej (3)Lokalizacja, sygnatura: w czytelni DrOIN 126061, ...
		Weryfikacja i reweryfikacja parametrów dokładnościowych frezarki w oparciu o procedury stosowane we współrzędnościowych systemach pomiarowych / Roman Michalski ; Politechnika Poznańska. Wydział Inżynierii Mechanicznej. Instytut Technologii Mechanicznej. Zakład Metrologii i Systemów Pomiarowych. autor Michalski Roman [Autor] Wieczorowski, Michał [Promotor] Gapiński, Bartosz, (1977- ) [Promotor] Politechnika Poznańska. Wydział Inżynierii Mechanicznej [Instytucja sprawcza] Rodzaj materiału: Tekst; Format: druk ; Forma literacka: Tekst nieliteracki Język: polski Język streszczenia: angielski Szczegóły wydania: Poznań, 2021 Uwaga dotycząca dysertacji: Rozprawa doktorska. Politechnika Poznańska, 2021. Zasoby online: Kliknij tutaj, aby uzyskać dostęp online Status: Egzemplarze dostępne do wypożyczenia: Biblioteka Politechniki Poznańskiej (1)Lokalizacja, sygnatura: w czytelni DrOIN 2165.
		Implementation of coordinate metrology / Michał Wieczorowski (ed.) et al. autor Wieczorowski, Michał [Red.] Akademia Techniczno-Humanistyczna (Bielsko-Biała). Wydawnictwo Naukowe [] Rodzaj materiału: Tekst; Format: druk ; Forma literacka: Tekst nieliteracki Szczegóły wydania: Bielsko-Biała : Wydawnictwo Naukowe Akademii Techniczno-Humanistycznej, 2012 Status: Egzemplarze dostępne do wypożyczenia: Biblioteka Politechniki Poznańskiej (1)Lokalizacja, sygnatura: w czytelni A 175596.
		The errors of stylus methods in surface topography measurements / Paweł Pawlus, Michał Wieczorowski, Thomas Mathia. autor Pawlus, Paweł [Autor] Wieczorowski, Michał [Autor] Mathia, Thomas, (1945- ) [Autor] Przedsiębiorstwo Produkcyjno-Handlowe ZAPOL Dmochowski, Sobczyk [Wydawca] Rodzaj materiału: Tekst; Format: druk ; Forma literacka: Tekst nieliteracki Szczegóły wydania: Szczecin : ZAPOL Sobczyk Sp.j., 2014 Zasoby online: Spis treści Status: Egzemplarze dostępne do wypożyczenia: Biblioteka Politechniki Poznańskiej (1)Lokalizacja, sygnatura: w czytelni A 204014.
		Charakterystyka chropowatości powierzchni : przewodnik / Michał Wieczorowski, Andrzej Cellary, Jan Chajda. autor Wieczorowski, Michał Cellary, Andrzej Chajda, Jan, (1939-2022) Rodzaj materiału: Tekst; Format: druk ; Forma literacka: Tekst nieliteracki ; Przeznaczenie czytelnicze: Odbiorca wyspecjalizowany; Szczegóły wydania: Poznań : Politechnika Poznańska. Instytut Technologii Maszyn. Zakład Metrologii i Systemów Pomiarowych, 1996 Status: Egzemplarze dostępne do wypożyczenia: Biblioteka Politechniki Poznańskiej (2)Lokalizacja, sygnatura: w czytelni A 125825, ... Zamów
		Metrologia nierówności powierzchni : metody i systemy / Michał Wieczorowski. autor Wieczorowski, Michał [Autor] Przedsiębiorstwo Produkcyjno-Handlowe ZAPOL Dmochowski, Sobczyk [Wydawca] Wydanie: Wydanie I. Rodzaj materiału: Tekst; Format: druk ; Forma literacka: Tekst nieliteracki Szczegóły wydania: Szczecin : Przedsiębiorstwo Produkcyjno-Handlowe ZAPOL Dmochowski, Sobczyk Sp.j., 2013 Zasoby online: Spis treści Status: Egzemplarze dostępne do wypożyczenia: Biblioteka Politechniki Poznańskiej (1)Lokalizacja, sygnatura: w czytelni A 204013.
		Wykorzystanie analizy topograficznej w pomiarach nierówności powierzchni / Michał Wieczorowski. autor Wieczorowski, Michał Politechnika Poznańska. Wydawnictwo [] Serie: Rozprawy - Politechnika Poznańska ; nr 429 Rodzaj materiału: Tekst; Format: druk ; Forma literacka: Tekst nieliteracki Język: polski Język streszczenia: angielski Szczegóły wydania: Poznań : Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej, 2009 Zasoby online: Dostęp tylko z komputerów Biblioteki Politechniki Poznańskiej. Tytuł jest dostępny w wersji elektronicznej. Status: Egzemplarze dostępne do wypożyczenia: Biblioteka Politechniki Poznańskiej (3)Lokalizacja, sygnatura: w czytelni A 163358, ... Niedostępny: Biblioteka Politechniki Poznańskiej: Wypożyczono (1). Zamów
		Metodyka badania dokładności optycznych skanerów współrzędnościowych / Lidia Marciniak-Podsadna ; Politechnika Poznańska. Wydział Budowy Maszyn i Zarządzania. Instytut Technologii Mechanicznej. Zakład Metrologii i Systemów Pomiarowych. autor Marciniak-Podsadna, Lidia Wieczorowski, Michał [Promotor] Politechnika Poznańska. Wydział Budowy Maszyn i Zarządzania Rodzaj materiału: Tekst; Format: druk ; Forma literacka: Tekst nieliteracki Język: polski Język streszczenia: angielski Szczegóły wydania: Poznań, 2013 Uwaga dotycząca dysertacji: Rozprawa doktorska. Politechnika Poznańska, 2013. Zasoby online: Kliknij tutaj, aby uzyskać dostęp online Status: Egzemplarze dostępne do wypożyczenia: Biblioteka Politechniki Poznańskiej (1)Lokalizacja, sygnatura: w czytelni DrOIN 1588.
		Advances in manufacturing II. Vol. 5, Metrology and measurement systems / Magdalena Diering, Michał Wieczorowski, Christopher A. Brown. autor Diering, Magdalena [Redakcja] Wieczorowski, Michał [Redakcja] Brown, Christopher A [Redakcja] Springer Nature [Wydawca] Serie: Lecture Notes in Mechanical Engineering Rodzaj materiału: Tekst; Format: druk ; Forma literacka: Tekst nieliteracki Szczegóły wydania: Cham : Springer Nature, copyright 2019 Inny tytuł: Metrology and measurement systems Metrology and measurement systems Status: Egzemplarze dostępne do wypożyczenia: Biblioteka Politechniki Poznańskiej (1)Lokalizacja, sygnatura: w czytelni A 194628.