Wyniki wyszukiwania: 2.

Sortuj
Wyniki
Oznaczanie profilu stężenia zawiesiny i sedymentu na bazie teoretycznego modelowania i metody ultradźwiękowej / Michał Sikorski ; Politechnika Poznańska. Wydział Technologii Chemicznej. autor
Rodzaj materiału: Tekst Tekst; Format: druk
Język: polski
Szczegóły wydania: Poznań : PP, 2004
Uwaga dotycząca dysertacji: Rozprawa doktorska. Politechnika Poznańska, 2004.
Status: Egzemplarze dostępne do wypożyczenia: Biblioteka Politechniki Poznańskiej (1)Lokalizacja, sygnatura: w czytelni DrOIN 666.
Przestrzenie uniwersytetu: trendy, wizje, standardy projektowania [dokument elektroniczny] / Michał Sikorski, Stefan Jackowski, Karolina Matysiak. autor
Rodzaj materiału: Tekst Tekst; Format: elektroniczny ; Forma literacka: Tekst nieliteracki
Szczegóły wydania: Warszawa : Wydawnictwo Uniwersytetu Warszawskiego, 2020
Status: Brak dostępnych egzemplarzy.