Metrologiczna analiza dyskretyzacji na współrzędnościowych maszynach pomiarowych i modelowania w systemie CAD wybranych elementów w procesie inżynierii odwrotnej / Maciej Szelewski ; promotor: Jan Chajda ; Politechnika Poznańska. Wydział Budowy Maszyn i Zarządzania. Instytut Technologii Mechanicznej. Zakład Metrologii i Systemów Pomiarowych.
Rodzaj materiału:
TekstJęzyk: polski Język streszczenia: angielski Szczegóły wydania: Poznań : [nakł. autora], 2008.Opis: 135 s. : il. ; 30 cm + 2 recenzjeTematy: Zasoby online: Uwaga dotycząca dysertacji: Rozprawa doktorska. Politechnika Poznańska, 2008.
| Typ dokumentu | Obecna biblioteka | Kolekcja | Sygnatura | Status | Kod kreskowy | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Niewypożyczane | Biblioteka Politechniki Poznańskiej w czytelni | Prace doktorskie (Oddział Inf.-Naukowej) | DrOIN 1142 | Dostępny | 0000084393 |
Liczba zamówień: 0
Rozprawa doktorska. Politechnika Poznańska, 2008.
Bibliogr. s. 128-135.
Streszcz. ang.