Testing Digital Integeated Circuits with Novel Low Power High Fault Coverage Techniques and a New Scan Architecture / Jędrzej Solecki ; Poznan University of Technology. Faculty of Electronics and Telecommunications.
Rodzaj materiału:
TekstJęzyk: angielski Język streszczenia: polski Szczegóły wydania: Poznań, [2016].Opis: 92, [4] s. : il. ; 30 cm + 2 recenzjeZasoby online: Uwaga dotycząca dysertacji: Rozprawa doktorska. Politechnika Poznańska, [2016].
| Typ dokumentu | Obecna biblioteka | Kolekcja | Sygnatura | Status | Kod kreskowy | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Niewypożyczane | Biblioteka Politechniki Poznańskiej w czytelni | Prace doktorskie (Oddział Inf.-Naukowej) | DrOIN 1804 | Dostępny | 0000176029 |
Liczba zamówień: 0
Promotor: Jerzy Tyszer
Niepublikowana praca doktorska.
Rozprawa doktorska. Politechnika Poznańska, [2016].
Bibliogr. s. 84-92.
Streszcz. pol.