Widok standardowy Widok MARC Widok ISBD

Testing Digital Integeated Circuits with Novel Low Power High Fault Coverage Techniques and a New Scan Architecture / Jędrzej Solecki ; Poznan University of Technology. Faculty of Electronics and Telecommunications.

Autor: Współtwórca(-y): Rodzaj materiału: TekstTekstJęzyk: angielski Język streszczenia: polski Szczegóły wydania: Poznań, [2016].Opis: 92, [4] s. : il. ; 30 cm + 2 recenzjeZasoby online: Uwaga dotycząca dysertacji: Rozprawa doktorska. Politechnika Poznańska, [2016].
Egzemplarze
Typ dokumentu Obecna biblioteka Kolekcja Sygnatura Status Kod kreskowy
Niewypożyczane Biblioteka Politechniki Poznańskiej w czytelni Prace doktorskie (Oddział Inf.-Naukowej) DrOIN 1804 Dostępny 0000176029
Liczba zamówień: 0

Promotor: Jerzy Tyszer

Niepublikowana praca doktorska.

Rozprawa doktorska. Politechnika Poznańska, [2016].

Bibliogr. s. 84-92.

Streszcz. pol.

Udostępnij