Wyszukiwanie zaawansowane

Wyniki wyszukiwania: 8.

Wyniki
		An introduction to surface analysis by XPS and AES [Dokument elektroniczny] / John F. Watts, John Wolstenholme. autor Watts, John F Wolstenholme, John Rodzaj materiału: Tekst; Format: elektroniczny dostępne online ; Forma literacka: Tekst nieliteracki Szczegóły wydania: Chicheste [etc.] : J. Wiley, 2003 Zasoby online: Kliknij tutaj, aby uzyskać dostęp online Status: Brak dostępnych egzemplarzy.
		Surface analysis : the principal techniques / ed. by John C. Vickerman, Ian S. Gilmore. autor Gilmore, Ian S [Red.] Vickerman, John C [Red.] John Wiley & Sons [] Wydanie: 2nd ed. Rodzaj materiału: Tekst; Format: druk ; Forma piśmiennicza: ; Forma literacka: Tekst nieliteracki Szczegóły wydania: Chichester : John Wiley & Sons, cop. 2009 Status: Egzemplarze dostępne do wypożyczenia: Biblioteka Politechniki Poznańskiej (1)Lokalizacja, sygnatura: w czytelni A 167313.
		Silicone surface science / [ed. by] Michael J. Owen, Petar R Dvornic. autor Dvornic, Petar R [Red.] Owen, Michael J [Red.] Serie: Advances in Silicon Science ; 4 Rodzaj materiału: Tekst; Format: druk ; Forma literacka: Tekst nieliteracki Szczegóły wydania: New York : Springer, 2012 Zasoby online: Spis treści Status: Egzemplarze dostępne do wypożyczenia: Biblioteka Politechniki Poznańskiej (1)Lokalizacja, sygnatura: w czytelni A 174749. Niedostępny: Biblioteka Politechniki Poznańskiej: Wypożyczono (1). Zamów
		Surface analysis [Dokument elektroniczny] : the principal techniques / ed. by John C. Vickerman, Ian S. Gilmore. autor Gilmore, Ian S [Red.] Vickerman, John C [Red.] Wydanie: 2nd ed. Rodzaj materiału: Tekst; Format: elektroniczny dostępne online ; Forma literacka: Tekst nieliteracki Szczegóły wydania: Chichester : Wiley, 2009 Zasoby online: Dostęp w sieci internet dla zarejestrowanych i uprawnionych użytkowników Biblioteki Politechniki Poznańskiej. Status: Brak dostępnych egzemplarzy.
		Handbook of surface and interface analysis : methods for problem-solving / ed. by John C. Rivière, Sverre Myhra. autor Rivière, John C [Red.] Myhra, Sverre, (1943- ) [Red.] Wydanie: 2nd ed. Rodzaj materiału: Tekst; Format: druk ; Forma literacka: Tekst nieliteracki ; Przeznaczenie czytelnicze: Odbiorca wyspecjalizowany; Szczegóły wydania: Boca Raton [etc.] : CRC Press/Taylor & Francis Group, cop. 2009 Status: Egzemplarze dostępne do wypożyczenia: Biblioteka Politechniki Poznańskiej (1)Lokalizacja, sygnatura: w czytelni A 167312.
		Wybrane aspekty analizy topografii powierzchni w modelowaniu i procesach obróbkowych / Grzegorz M. Królczyk. autor Królczyk, Grzegorz (inżynier) [Autor] Politechnika Opolska. Oficyna Wydawnicza [Wydawca] Serie: Studia i Monografie - Politechnika Opolska ; z. 508 Rodzaj materiału: Tekst; Format: druk ; Forma literacka: Tekst nieliteracki ; Przeznaczenie czytelnicze: Odbiorca wyspecjalizowany; Język: polski Język streszczenia: angielski Szczegóły wydania: Opole : Politechnika Opolska Oficyna Wydawnicza, 2019 Zasoby online: Spis treści Status: Egzemplarze dostępne do wypożyczenia: Biblioteka Politechniki Poznańskiej (1)Lokalizacja, sygnatura: w czytelni Cz 4495.
		Zaawansowana analiza powierzchni włókien polipropylenowych w płaskich wyrobach włókienniczych modyfikowanych nanowarstwami polielektrolitów / Dawid Stawski. autor Stawski, Dawid (nauki chemiczne) Serie: Zeszyty Naukowe - Politechnika Łódzka. Rozprawy Naukowe ; z. 388 \| Zeszyty Naukowe Politechniki Łódzkiej ; nr 1060 Rodzaj materiału: Tekst; Format: druk ; Forma literacka: Tekst nieliteracki Język: polski Język streszczenia: angielski Szczegóły wydania: Łódź : Wydawnictwo Politechniki Łódzkiej, 2010 Status: Egzemplarze dostępne do wypożyczenia: Biblioteka Politechniki Poznańskiej (1)Lokalizacja, sygnatura: w czytelni Cz 4108.
		Modelowanie i analiza nierówności powierzchni elementów wykonywanych metodą stereolitografii / Stefan Dzionk ; Politechnika Gdańska. autor Dzionk, Stefan Politechnika Gdańska. Wydawnictwo [pbl] Serie: Monografie - Politechnika Gdańska ; 139 Rodzaj materiału: Tekst; Format: druk ; Forma literacka: Tekst nieliteracki ; Przeznaczenie czytelnicze: Odbiorca wyspecjalizowany; Język: polski Język streszczenia: angielski Szczegóły wydania: Gdańsk : Wydawnictwo Politechniki Gdańskiej, 2013 Inny tytuł: Modelowanie i analiza nierówności powierzchni wykonywanych metodą stereolitografii Status: Egzemplarze dostępne do wypożyczenia: Biblioteka Politechniki Poznańskiej (1)Lokalizacja, sygnatura: w czytelni A 178370.