Wyszukiwanie zaawansowane

Wyniki wyszukiwania: 10.

Wyniki
		Metrologia wspomagana komputerowo MWK - 2008 : VIII szkoła-konferencja, Waplewo, 27-30 maja 2008. autor MWK '2008 (8 ; 2008 ; Waplewo) Rodzaj materiału: Tekst; Format: druk ; Forma literacka: Tekst nieliteracki ; Przeznaczenie czytelnicze: Odbiorca wyspecjalizowany; Język: polski, angielski Język streszczenia: polski, angielski Szczegóły wydania: Warszawa : Wojskowa Akademia Techniczna, 2008 Status: Egzemplarze dostępne do wypożyczenia: Biblioteka Instytutu Konstrukcji Budowlanych (1)Lokalizacja, sygnatura: Inst.Konstr.Bud. IB Kz S-621.
		Metrologia wspomagana komputerowo : VI szkoła-konferencja, Waplewo, 26-29 maja 2003. T. 2, Referaty / [ kom. nauk. Jerzy Barzykowski et al.]. autor MWK '2003 (6 ; 2003 ; Waplewo) Barzykowski, Jerzy, (1930-2017) [Oprac.] Rodzaj materiału: Tekst; Format: druk ; Forma literacka: Tekst nieliteracki ; Przeznaczenie czytelnicze: Odbiorca wyspecjalizowany; Język: polski, angielski Język streszczenia: angielski, polski Szczegóły wydania: Warszawa : Wojskowa Akademia Techniczna. Wydział Elektroniki. Instytut Podstaw Elektroniki, 2003 Status: Egzemplarze dostępne do wypożyczenia: Biblioteka Politechniki Poznańskiej (1)Lokalizacja, sygnatura: w czytelni A 147165.
		Metrologia wspomagana komputerowo MWK - 2011 : IX szkoła-konferencja, Waplewo, 24-27 maja 2011. autor MWK '2011 (9 ; 2011 ; Waplewo) Rodzaj materiału: Tekst; Format: druk ; Forma literacka: Tekst nieliteracki ; Przeznaczenie czytelnicze: Odbiorca wyspecjalizowany; Język: polski, angielski Szczegóły wydania: Warszawa : Wojskowa Akademia Techniczna, 2011 Status: Egzemplarze dostępne do wypożyczenia: Biblioteka Politechniki Poznańskiej (1)Lokalizacja, sygnatura: w czytelni A 170827.
		Metrologia wspomagana komputerowo : VI szkoła-konferencja, Waplewo, 26-29 maja 2003. T. 1, Wykłady / [kom. nauk. Jerzy Barzykowski et al.]. autor MWK '2003 (6 ; 2003 ; Waplewo) Barzykowski, Jerzy, (1930-2017) [Oprac.] Rodzaj materiału: Tekst; Format: druk ; Forma literacka: Tekst nieliteracki ; Przeznaczenie czytelnicze: Odbiorca wyspecjalizowany; Język: polski, angielski Język streszczenia: angielski, polski Szczegóły wydania: Warszawa : Wojskowa Akademia Techniczna. Wydział Elektroniki. Instytut Podstaw Elektroniki, 2003 Status: Egzemplarze dostępne do wypożyczenia: Biblioteka Politechniki Poznańskiej (1)Lokalizacja, sygnatura: w czytelni A 147164.
		Metrologia wspomagana komputerowo : VI szkoła-konferencja, Waplewo, 26-29 maja 2003. T. 3, Granty i projekty celowe, referaty / [kom. nauk. Jerzy Barzykowski et al.]. autor MWK '2003 (6 ; 2003 ; Waplewo) Barzykowski, Jerzy, (1930-2017) [Oprac.] Rodzaj materiału: Tekst; Format: druk ; Forma literacka: Tekst nieliteracki ; Przeznaczenie czytelnicze: Odbiorca wyspecjalizowany; Język: polski Język streszczenia: angielski Szczegóły wydania: Warszawa : Wojskowa Akademia Techniczna. Wydział Elektroniki. Instytut Podstaw Elektroniki, 2003 Status: Egzemplarze dostępne do wypożyczenia: Biblioteka Politechniki Poznańskiej (1)Lokalizacja, sygnatura: w czytelni A 147166/3.
		Zastosowanie mikroprocesorów w automatyce i pomiarach : XII Konferencja Naukowo-Techniczna, Warszawa, 9-10.10.2000 = Application of microprocessors in automatic control and measurements / [org.] Przemysłowy Instytut Elektroniki. autor Przemysłowy Instytut Elektroniki (Warszawa) Rodzaj materiału: Tekst; Format: druk ; Forma literacka: Tekst nieliteracki ; Przeznaczenie czytelnicze: Odbiorca wyspecjalizowany; Język: polski, angielski Język streszczenia: angielski Szczegóły wydania: Warszawa : Przemysłowy Instytut Elektroniki, 2000 Inny tytuł: Application of microprocessors in automatic control and measurements Status: Egzemplarze dostępne do wypożyczenia: Biblioteka Politechniki Poznańskiej (1)Lokalizacja, sygnatura: w czytelni A 140925.
		Metrologiczne właściwości programowanych przetworników pomiarowych : prace Instytutu Metrologii i Automatyki Elektrotechnicznej / [red. Roma Łoś]. autor Łoś, Roma [Red.] Politechnika Śląska (Gliwice). Instytut Metrologii i Automatyki Elektrotechnicznej Politechnika Śląska (Gliwice). Wydawnictwo [pbl] Serie: Zeszyty Naukowe - Politechnika Śląska ; nr 1670 \| Zeszyty Naukowe - Politechnika Śląska. Elektryka ; z. 195 Rodzaj materiału: Tekst; Format: druk ; Forma literacka: Tekst nieliteracki ; Przeznaczenie czytelnicze: Odbiorca wyspecjalizowany; Język: polski Język streszczenia: angielski Szczegóły wydania: Gliwice : Wydawnictwo Politechniki Śląskiej, 2005 Status: Egzemplarze dostępne do wypożyczenia: Biblioteka Politechniki Poznańskiej (1)Lokalizacja, sygnatura: w czytelni Cz 634.
		XI Szkoła - Konferencja "Metrologia wspomagana komputerowo" : MWK'17, Waplewo, 23-26 maja 2017 : streszczenia referatów / organizatorzy: Instytut Systemów Elektronicznych Wydziału Elektroniki Wojskowej Akademii Technicznej, Wojskowe Centrum Metrologii Ministerstwa Obrony Narodowej, Instytut Elektrotechniki Teoretycznej i Systemów Informacyjno-Pomiarowych Wydziału Elektrycznego Politechniki Warszawskiej. autor MWK '2017 (11 ; 2017 ; Waplewo) Wojskowa Akademia Techniczna im. Jarosława Dąbrowskiego (Warszawa) [pbl] Politechnika Warszawska. Wydział Elektryczny Polska. Ministerstwo Obrony Narodowej. Wojskowe Centrum Metrologii Wojskowa Akademia Techniczna im. Jarosława Dąbrowskiego (Warszawa). Wydział Elektroniki Politechnika Warszawska. Instytut Elektrotechniki Teoretycznej i Systemów Informacyjno-Pomiarowych Rodzaj materiału: Tekst; Format: druk ; Forma literacka: Tekst nieliteracki ; Przeznaczenie czytelnicze: Odbiorca wyspecjalizowany; Język: polski, angielski Szczegóły wydania: Warszawa : Wojskowa Akademia Techniczna, 2017 Inny tytuł: Metrologia wspomagana komputerowo MWK'17 Jedenasta Szkoła - Konferencja "Metrologia wspomagana komputerowo" MWK'2017 Status: Egzemplarze dostępne do wypożyczenia: Biblioteka Politechniki Poznańskiej (1)Lokalizacja, sygnatura: w czytelni A 195910.
		X Szkoła - Konferencja "Metrologia wspomagana komputerowo" : MWK'2014, Waplewo, 27-30 maja 2014 : streszczenia referatów / org.: Instytut Systemów Elektronicznych Wydziału Elektroniki Wojskowej Akademii Technicznej, Wojskowe Centrum Metrologii Ministerstwa Obrony Narodowej, Wydział Elektryczny Politechniki Warszawskiej. autor MWK '2014 (10 ; 2014 ; Waplewo) Wojskowa Akademia Techniczna im. Jarosława Dąbrowskiego (Warszawa) [pbl] Politechnika Warszawska. Wydział Elektryczny Polska. Ministerstwo Obrony Narodowej. Wojskowe Centrum Metrologii Wojskowa Akademia Techniczna im. Jarosława Dąbrowskiego (Warszawa). Wydział Elektroniki Rodzaj materiału: Tekst; Format: druk ; Forma literacka: Tekst nieliteracki ; Przeznaczenie czytelnicze: Odbiorca wyspecjalizowany; Język: polski, angielski Szczegóły wydania: Warszawa : Wojskowa Akademia Techniczna, 2014 Inny tytuł: Metrologia wspomagana komputerowo MWK'2014 Dziesiąta Szkoła - Konferencja "Metrologia wspomagana komputerowo" MWK'2014 Status: Egzemplarze dostępne do wypożyczenia: Biblioteka Politechniki Poznańskiej (1)Lokalizacja, sygnatura: w czytelni A 180842.
		Czujniki optoelektroniczne i elektroniczne : VII konferencja naukowa COE 2002, Rzeszów, 5-8 czerwca 2002 : materiały konferencyjne. T. 2 / Polskie Towarzystwo Techniki Sensorowej, Politechnika Rzeszowska. autor COE 2002 (7 ; 2002 ; Rzeszów) Polskie Towarzystwo Techniki Sensorowej Politechnika Rzeszowska im. Ignacego Łukasiewicza Rodzaj materiału: Tekst; Format: druk Język: polski, angielski Język streszczenia: angielski, polski Szczegóły wydania: Rzeszów : Oficyna Wydawnicza PR, [2002] Status: Egzemplarze dostępne do wypożyczenia: Biblioteka Politechniki Poznańskiej (1)Lokalizacja, sygnatura: w czytelni A 144109/2.