Wyniki wyszukiwania: 2.

Sortuj
Wyniki
IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement / IEEE Professional Technical Group on Instrumentation and Measurement. autor
Rodzaj materiału: Wydawnictwo ciągłe Wydawnictwo ciągłe; Format: druk ; Typ wydawnictwa ciągłego: periodyk
Szczegóły wydania: New York, NY : IEEE, 1963-
Inny tytuł:
  • Instrumentation and Measurement Technology Conference (IMTC 2007) : 24th Conference Warsaw, Poland, May 1-3, 2007 : Special Issue
  • Precision on Electromagnetic Measurement ; Conference 2008 (CPEM) : Special Issue
  • Instrumentation Measurement Technology International Conference (IMTC 2008) : Special Issue
  • Instrumentation and Measurement Technology International Conference (I 2 MTC 2009) : Special Issue
  • Instrumentation Measurement International Conference (I2MTC 2010) : Special Issue
  • Precision Electromagnetic Measurement Conference 2010 (CPEM) : Special Issue
  • Instrumentation and Measurement Technology 2011 IEEE International Conference : Special Issue
  • Applied Measurement for Power Systems; Second IEEE International Workshop : Special Issue
  • ADC Modeling, Testing and Data converter Analysis and Design and the IEEE 2011 Adc Forum: International Workshop : Special Issue
  • Haptic Audio-Visual Environments and Games : Special Issue
  • Measurement and Networking (M&N) 2011: First IEEE International Workshop : Special Issue
  • Sensor Applications : Special Issue
  • CPEM 2012 : Special Issue
  • Fundamentals of Measurement for Power Systems : Special Section
  • Applied Measurement for Power Systems : Special Section
  • Medical Measurements and Applications ; 2012 International Syposium : Special Section
  • Instrumentation and Measurement Technology International Conference 2013 : Special Issue
  • Medical Measurement and Applications 2013; 8th international Symposium : Special Section
  • Applied Measurement for Power Systems : Special Section
  • Measurement and Networking (M&N) 2013 ; IEEE International Workshop : Special Section
Status: Egzemplarze dostępne do wypożyczenia: Biblioteka Politechniki Poznańskiej (62)Lokalizacja, sygnatura: dostępny Cz 1402, ...
IEEE Instrumentation & Measurement Magazine. autor
Rodzaj materiału: Wydawnictwo ciągłe Wydawnictwo ciągłe; Format: druk ; Typ wydawnictwa ciągłego: periodyk
Szczegóły wydania: New York, NY : IEEE, 1998-
Inny tytuł:
  • IEEE Instrumentation and Measurement Magazine
  • Institute of Electrical and Electronics Instrumentation and Measurement Magazine
  • Instrumentation & Measurement
  • I & M Magazine
Status: Egzemplarze dostępne do wypożyczenia: Biblioteka Politechniki Poznańskiej (18)Lokalizacja, sygnatura: dostępny Cz 5050, ...