Wyniki wyszukiwania: 3.

Sortuj
Wyniki
Metrologia wspomagana komputerowo : VI szkoła-konferencja, Waplewo, 26-29 maja 2003. T. 2, Referaty / [ kom. nauk. Jerzy Barzykowski et al.]. autor
Rodzaj materiału: Tekst Tekst; Format: druk ; Forma literacka: Tekst nieliteracki ; Przeznaczenie czytelnicze: Odbiorca wyspecjalizowany;
Język: polski, angielski Język streszczenia: angielski, polski
Szczegóły wydania: Warszawa : Wojskowa Akademia Techniczna. Wydział Elektroniki. Instytut Podstaw Elektroniki, 2003
Status: Egzemplarze dostępne do wypożyczenia: Biblioteka Politechniki Poznańskiej (1)Lokalizacja, sygnatura: w czytelni A 147165.
Metrologia wspomagana komputerowo : VI szkoła-konferencja, Waplewo, 26-29 maja 2003. T. 1, Wykłady / [kom. nauk. Jerzy Barzykowski et al.]. autor
Rodzaj materiału: Tekst Tekst; Format: druk ; Forma literacka: Tekst nieliteracki ; Przeznaczenie czytelnicze: Odbiorca wyspecjalizowany;
Język: polski, angielski Język streszczenia: angielski, polski
Szczegóły wydania: Warszawa : Wojskowa Akademia Techniczna. Wydział Elektroniki. Instytut Podstaw Elektroniki, 2003
Status: Egzemplarze dostępne do wypożyczenia: Biblioteka Politechniki Poznańskiej (1)Lokalizacja, sygnatura: w czytelni A 147164.
Metrologia wspomagana komputerowo : VI szkoła-konferencja, Waplewo, 26-29 maja 2003. T. 3, Granty i projekty celowe, referaty / [kom. nauk. Jerzy Barzykowski et al.]. autor
Rodzaj materiału: Tekst Tekst; Format: druk ; Forma literacka: Tekst nieliteracki ; Przeznaczenie czytelnicze: Odbiorca wyspecjalizowany;
Język: polski Język streszczenia: angielski
Szczegóły wydania: Warszawa : Wojskowa Akademia Techniczna. Wydział Elektroniki. Instytut Podstaw Elektroniki, 2003
Status: Egzemplarze dostępne do wypożyczenia: Biblioteka Politechniki Poznańskiej (1)Lokalizacja, sygnatura: w czytelni A 147166/3.