Wyszukiwanie zaawansowane

Wyniki wyszukiwania: 3.

Wyniki
		Rozwój i zastosowanie zaawansowanych technik mikroskopii sił atomowych w diagnostyce materiałów elektrotechnicznych : wybrane zagadnienia / Andrzej Sikora ; Instytut Elektrotechniki. autor Sikora, Andrzej (nauki techniczne) Instytut Elektrotechniki (Warszawa) [] Serie: Prace Instytutu Elektrotechniki ; z. 257 \| Prace Instytutu Elektrotechniki. Monografia Rodzaj materiału: Tekst; Format: druk ; Forma literacka: Tekst nieliteracki Język: polski Język oryginału: angielski Szczegóły wydania: Warszawa : Instytut Elektrotechniki, 2012 Status: Egzemplarze dostępne do wypożyczenia: Biblioteka Politechniki Poznańskiej (1)Lokalizacja, sygnatura: w czytelni Cz 207.
		Development of a hybrid atomic force microscope and optical tweezers apparatus / Krzysztof Zembrzycki, Sylwia Pawlowska, Paweł Nakielski, Filippo Perini. autor Zembrzycki, Krzysztof Pawłowska, Sylwia Nakielski, Paweł Pierini, Filippo Polska Akademia Nauk. Instytut Podstawowych Problemów Techniki [pbl] Serie: IPPT Reports on Fundamental Technological Research ; nr 2/2016 Rodzaj materiału: Tekst; Format: druk ; Forma literacka: Tekst nieliteracki ; Przeznaczenie czytelnicze: Odbiorca wyspecjalizowany; Język: angielski Język streszczenia: polski Szczegóły wydania: Warsaw : Institute of Fundamental Technological Resarch, 2016 Status: Egzemplarze dostępne do wypożyczenia: Biblioteka Politechniki Poznańskiej (1)Lokalizacja, sygnatura: w czytelni Cz 5528.
		Mikroskopia bliskich oddziaływań / Krystyna Wieczorek-Ciurowa, Jakub Barbasz, Teodora Sikora ; Politechnika Krakowska im. Tadeusza Kościuszki. autor Wieczorek-Ciurowa, Krystyna Barbasz, Jakub Sikora, Teodora Politechnika Krakowska im. Tadeusza Kościuszki. Wydawnictwo [pbl] Rodzaj materiału: Tekst; Format: druk ; Forma literacka: Tekst nieliteracki ; Przeznaczenie czytelnicze: Odbiorca wyspecjalizowany; Szczegóły wydania: Kraków : Wydawnictwo PK, 2014 Zasoby online: Okładka Status: Egzemplarze dostępne do wypożyczenia: Biblioteka Politechniki Poznańskiej (1)Lokalizacja, sygnatura: w czytelni A 184819.