Wyniki wyszukiwania: 9.

Sortuj
Wyniki
Podstawy elektrotechniki / Barzykowski Jerzy. autor
Rodzaj materiału: Tekst Tekst; Format: druk
Język: polski
Szczegóły wydania: Warszawa : brak, 1963
Status: Egzemplarze dostępne do wypożyczenia: Biblioteka Politechniki Poznańskiej (1)Lokalizacja, sygnatura: zbiór archiwalny Mg 39717/4.
Teoria obwodów elektrycznych. Cz. 2 / Jerzy Barzykowski ; Wojskowa Akademia Techniczna im. Jarosława Dąbrowskiego. autor
Rodzaj materiału: Tekst Tekst; Format: druk
Szczegóły wydania: Warszawa : WAT, 1974
Status: Egzemplarze dostępne do wypożyczenia: Biblioteka Politechniki Poznańskiej (1)Lokalizacja, sygnatura: na półce Mg 72553/2.
Teoria obwodów elektrycznych / Barzykowski Jerzy. Cz.3. autor
Rodzaj materiału: Tekst Tekst; Format: druk
Język: polski
Szczegóły wydania: Warszawa : 1975
Status: Egzemplarze dostępne do wypożyczenia: Biblioteka Politechniki Poznańskiej (1)Lokalizacja, sygnatura: w czytelni A 70679/3.
Metrologia wspomagana komputerowo : VI szkoła-konferencja, Waplewo, 26-29 maja 2003. T. 2, Referaty / [ kom. nauk. Jerzy Barzykowski et al.]. autor
Rodzaj materiału: Tekst Tekst; Format: druk ; Forma literacka: Tekst nieliteracki ; Przeznaczenie czytelnicze: Odbiorca wyspecjalizowany;
Język: polski, angielski Język streszczenia: angielski, polski
Szczegóły wydania: Warszawa : Wojskowa Akademia Techniczna. Wydział Elektroniki. Instytut Podstaw Elektroniki, 2003
Status: Egzemplarze dostępne do wypożyczenia: Biblioteka Politechniki Poznańskiej (1)Lokalizacja, sygnatura: w czytelni A 147165.
Metrologia wspomagana komputerowo : VI szkoła-konferencja, Waplewo, 26-29 maja 2003. T. 1, Wykłady / [kom. nauk. Jerzy Barzykowski et al.]. autor
Rodzaj materiału: Tekst Tekst; Format: druk ; Forma literacka: Tekst nieliteracki ; Przeznaczenie czytelnicze: Odbiorca wyspecjalizowany;
Język: polski, angielski Język streszczenia: angielski, polski
Szczegóły wydania: Warszawa : Wojskowa Akademia Techniczna. Wydział Elektroniki. Instytut Podstaw Elektroniki, 2003
Status: Egzemplarze dostępne do wypożyczenia: Biblioteka Politechniki Poznańskiej (1)Lokalizacja, sygnatura: w czytelni A 147164.
Metrologia wspomagana komputerowo : VI szkoła-konferencja, Waplewo, 26-29 maja 2003. T. 3, Granty i projekty celowe, referaty / [kom. nauk. Jerzy Barzykowski et al.]. autor
Rodzaj materiału: Tekst Tekst; Format: druk ; Forma literacka: Tekst nieliteracki ; Przeznaczenie czytelnicze: Odbiorca wyspecjalizowany;
Język: polski Język streszczenia: angielski
Szczegóły wydania: Warszawa : Wojskowa Akademia Techniczna. Wydział Elektroniki. Instytut Podstaw Elektroniki, 2003
Status: Egzemplarze dostępne do wypożyczenia: Biblioteka Politechniki Poznańskiej (1)Lokalizacja, sygnatura: w czytelni A 147166/3.
Systemy pomiarowe w badaniach naukowych i w przemyśle : SP'98 : II Konferencja : materiały konferencyjne / [kom. nauk. Jerzy Barzykowski et al. ; org.] Instytut Metrologii Elektrycznej Politechniki Zielonogórskiej. autor
Rodzaj materiału: Tekst Tekst; Format: druk ; Forma literacka: Tekst nieliteracki
Język: polski Język streszczenia: angielski
Szczegóły wydania: Zielona Góra : Wydawnictwo Politechniki Zielonogórskiej, 1998
Status: Egzemplarze dostępne do wypożyczenia: Biblioteka Politechniki Poznańskiej (1)Lokalizacja, sygnatura: w czytelni A 128659.
Współczesna metrologia : zagadnienia wybrane / autorzy Jerzy Barzykowski, Anna Domańska, Małgorzata Kujawińska, Janusz Mroczka, Stanisław Ososwski, Zbigniew Polański, Waldemar Tlaga, Danuta Turzeniecka, Wiesław Winiecki. autor
Wydanie: Wyd. I (dodruk).
Rodzaj materiału: Tekst Tekst; Format: druk ; Forma literacka: Tekst nieliteracki ; Przeznaczenie czytelnicze: Odbiorca wyspecjalizowany;
Szczegóły wydania: Warszawa : Wydawnictwa Naukowo-Techniczne, 2007
Status: Egzemplarze dostępne do wypożyczenia: Biblioteka Politechniki Poznańskiej (7)Lokalizacja, sygnatura: na półce W 106347, ...