Modern developments in electron microscopy / edited by Benjamin M. Siegel.
Rodzaj materiału:
TekstSzczegóły wydania: New York ; London : Academic Press, 1964.Opis: XIII, 432 s. : il. ; 23 cmTematy:
| Typ dokumentu | Obecna biblioteka | Kolekcja | Sygnatura | Status | Kod kreskowy | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Udostępniane w czytelni | Biblioteka Politechniki Poznańskiej zbiór archiwalny | magazyn główny | Mg 42824 | Dostępny | 0000052796 |
Liczba zamówień: 0
Bibliogr. przy rozdz.