Widok standardowy Widok MARC Widok ISBD

X-ray optics and X-ray microanalysis : third International Symposium, Stanford University, Stanford, California, August 1962 / edited by H. H. Pattee, V. E. Cosslett, Arne Engström.

Współtwórca(-y): Rodzaj materiału: TekstTekstSzczegóły wydania: New York ; London : Academic Press, 1963.Opis: XVII, 622 s. : il. ; 23 cmTematy:
Egzemplarze
Typ dokumentu Obecna biblioteka Kolekcja Sygnatura Status Kod kreskowy
Udostępniane w czytelni Biblioteka Politechniki Poznańskiej zbiór archiwalny magazyn główny Mg 42829 Dostępny 0000052817
Liczba zamówień: 0

Bibliogr. przy rozdz. Indeks.

Udostępnij