X-ray optics and X-ray microanalysis : third International Symposium, Stanford University, Stanford, California, August 1962 / edited by H. H. Pattee, V. E. Cosslett, Arne Engström.
Rodzaj materiału:
TekstSzczegóły wydania: New York ; London : Academic Press, 1963.Opis: XVII, 622 s. : il. ; 23 cmTematy:
| Typ dokumentu | Obecna biblioteka | Kolekcja | Sygnatura | Status | Kod kreskowy | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Udostępniane w czytelni | Biblioteka Politechniki Poznańskiej zbiór archiwalny | magazyn główny | Mg 42829 | Dostępny | 0000052817 |
Liczba zamówień: 0
Bibliogr. przy rozdz. Indeks.