Wyniki wyszukiwania: 3.

Sortuj
Wyniki
Metrologia w technikach wytwarzania : XI Krajowa, II Międzynarodowa Konferencja Naukowo-Techniczna, Lublin 2005 : materiały konferencyjne = Metrology in production engineering / przewodniczący komitetu naukowego konferencji Eugeniusz Ratajczyk ; Politechnika Lubelska. autor
Rodzaj materiału: Tekst Tekst; Format: druk ; Forma literacka: Tekst nieliteracki ; Przeznaczenie czytelnicze: Odbiorca wyspecjalizowany;
Język: polski, angielski, czeski Język streszczenia: angielski, niemiecki
Szczegóły wydania: Lublin : [Politechnika Lubelska - Wydawnictwo], 2005
Inny tytuł:
  • Metrology in production engineering
Status: Egzemplarze dostępne do wypożyczenia: Biblioteka Politechniki Poznańskiej (1)Lokalizacja, sygnatura: w czytelni A 153399.
Mechatronic systems and materials. 5 / edited by Zdzislaw Gosiewski, Zbigniew Kulesza. autor Serie: Diffusion and Defect Data. Solid State Data. Pt. B, Solid State Phenomena ; vol. 199
Rodzaj materiału: Tekst Tekst; Format: druk ; Forma literacka: Tekst nieliteracki ; Przeznaczenie czytelnicze: Odbiorca wyspecjalizowany;
Szczegóły wydania: Durnten-Zurich : Trans Tech Publications, © 2013
Status: Egzemplarze dostępne do wypożyczenia: Biblioteka Politechniki Poznańskiej (1)Lokalizacja, sygnatura: w czytelni A 178018.
Metrologia w technikach wytwarzania : XI Krajowa, II Międzynarodowa Konferencja Naukowo-Techniczna, Lublin, 15-17 września 2005 = Metrology in production engineering / komitet naukowy konferencji Eugeniusz Ratajczyk i 26 pozostałych ; organizator konferencji Politechnika Lubelska. Wydział Mechaniczny. Katedra Podstaw Inżynierii Produkcji. autor Serie: Przegląd Mechaniczny ; supl. 9 (2005)
Rodzaj materiału: Tekst Tekst; Format: druk ; Forma literacka: Tekst nieliteracki ; Przeznaczenie czytelnicze: Odbiorca wyspecjalizowany;
Język: polski, angielski
Szczegóły wydania: Warszawa : Oficyna Wydawnicza IMBiGS, 2005
Inny tytuł:
  • Metrology in production engineering
Status: Egzemplarze dostępne do wypożyczenia: Biblioteka Politechniki Poznańskiej (1)Lokalizacja, sygnatura: w czytelni Cz 21.