Wyniki wyszukiwania: 2.

Sortuj
Wyniki
Statystyczne i termiczne problemy niezawodności elementów elektronicznych / Roman F. Szeloch. autor
Rodzaj materiału: Tekst Tekst; Format: druk ; Forma literacka: Tekst nieliteracki ; Przeznaczenie czytelnicze: Odbiorca wyspecjalizowany;
Szczegóły wydania: Wrocław : Oficyna Wydawnicza PW, 1997
Status: Egzemplarze dostępne do wypożyczenia: Biblioteka Politechniki Poznańskiej (2)Lokalizacja, sygnatura: w czytelni A 126621, ... Biblioteka Wydziału Inżynierii Lądowej i Transportu (1) (1)Lokalizacja, sygnatura: Bibl. Wydz. Inż. Transportu MRT 12229.
Podstawy niezawodności elementów elektronicznych / Roman F. Szeloch. autor Serie: Skrypty - Politechnika Wrocławska
Rodzaj materiału: Tekst Tekst; Format: druk ; Forma literacka: Tekst nieliteracki ; Przeznaczenie czytelnicze: Odbiorca wyspecjalizowany;
Szczegóły wydania: Wrocław : Wydawnictwo Politechniki Wrocławskiej, 1976
Status: Egzemplarze dostępne do wypożyczenia: Biblioteka Politechniki Poznańskiej (2)Lokalizacja, sygnatura: w czytelni A 78665, ...