Obrazowanie struktury defektowej materiałów półizolujących z wykorzystaniem niestacjonarnej spektroskopii fotoprądowej / Michał Pawłowski.
Rodzaj materiału:
TekstSzczegóły wydania: Warszawa : Wojskowa Akademia Techniczna, 2007.Opis: 167 s. : il. (w tym kolor.) ; 24 cmTyp zawartości: - Tekst
- Bez urządzenia pośredniczącego
- Wolumin
- 9788389399663
| Typ dokumentu | Obecna biblioteka | Kolekcja | Sygnatura | Status | Kod kreskowy | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Niewypożyczane | Biblioteka Politechniki Poznańskiej w czytelni | Czytelnia | A 158514 | Dostępny | 0000071834 |
Liczba zamówień: 0
Bibliogr. s. 153-167.