Widok standardowy Widok MARC Widok ISBD

Applied scanning probe methods XI : scanning probe microscopy techniques / Bharat Bhushan, Harald Fuchs (eds.).

Współtwórca(-y): Rodzaj materiału: TekstTekstSerie: Nanoscience and TechnologySzczegóły wydania: Berlin ; Heidelberg : Springer-Verlag, 2009.Opis: LV, 235 s. : il. kol. ; 24 cmTyp zawartości:
  • Tekst
Tryb odtwarzania:
  • Bez urządzenia pośredniczącego
Typ nośnika:
  • Wolumin
ISBN:
  • 9783540850366
  • 9783540850373
Tematy: Zasoby online: Inna postać fizyczna:
  • Dostępne również w formie elektronicznej.
Egzemplarze
Typ dokumentu Obecna biblioteka Kolekcja Sygnatura Status Kod kreskowy
Niewypożyczane Biblioteka Politechniki Poznańskiej w opracowaniu Czytelnia A 163700 Dostępny 0000084045
Liczba zamówień: 0

Bibliogr. przy rozdz. Indeks.

Dostępne również w formie elektronicznej.

Udostępnij