Wykorzystanie analizy topograficznej w pomiarach nierówności powierzchni / Michał Wieczorowski.
Rodzaj materiału:
TekstJęzyk: polski Język streszczenia: angielski Serie: Rozprawy - Politechnika Poznańska ; nr 429Szczegóły wydania: Poznań : Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej, 2009.Opis: 340 s. : il. ; 24 cmTyp zawartości: - Tekst
- Bez urządzenia pośredniczącego
- Wolumin
- 9788371438066
- Książka dostępna również online.
| Typ dokumentu | Obecna biblioteka | Kolekcja | Sygnatura | Status | Termin zwrotu | Kod kreskowy | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Magazyn - Wypożyczane na zewnątrz z kolekcji MG | Biblioteka Politechniki Poznańskiej na półce | magazyn główny | Mg 163849 | Dostępny | 0000084194 | ||
| Niewypożyczane | Biblioteka Politechniki Poznańskiej w czytelni | Czytelnia | A 163358 | Dostępny | 0000085764 | ||
| Magazyn - Wypożyczane na zewnątrz z kolekcji MG | Biblioteka Politechniki Poznańskiej wypożyczony | magazyn główny | Mg 163360 | Wypożyczono | 14/02/2026 | 0000085766 | |
| Niewypożyczane | Biblioteka Politechniki Poznańskiej w czytelni | Czytelnia Oddziału Inf.-Naukowej | OIN 163359 | Dostępny | 0000085765 |
Liczba zamówień: 0
Bibliogr. s. 263-340.
Książka dostępna również online.
Streszcz. ang.