Wyszukiwanie zaawansowane

Wyniki wyszukiwania: 4.

Wyniki
		Omówienie wykonanych prac badawczych przy stanowisku atomowego wzorca częstotliwości Instytutu Łączności : wnioski i sugestie dalszego rozwoju laboratorium / A. Chachulski, K. Drogoń, K. Sikorski. autor Chachulski, Andrzej, ( -2003) Drogoń, Krystyna Sikorski, Krzysztof (materiałoznawstwo) Polska Akademia Nauk. Instytut Podstawowych Problemów Techniki [pbl] Serie: Prace IPPT ; 77/1977 Rodzaj materiału: Tekst; Format: druk ; Forma literacka: Tekst nieliteracki Szczegóły wydania: Warszawa : Instytut Podstawowych Problemów Techniki Polskiej Akademii Nauk, 1977 Status: Egzemplarze dostępne do wypożyczenia: Biblioteka Instytutu Konstrukcji Budowlanych (1)Lokalizacja, sygnatura: Inst.Konstr.Bud. IKB Cz/105/77(77).
		Współczesna mikroanaliza rentgenowska / Krzysztof Sikorski. autor Sikorski, Krzysztof (materiałoznawstwo) [Autor] Politechnika Warszawska. Oficyna Wydawnicza [Wydawca] Wydanie: Wydanie I. Rodzaj materiału: Tekst; Format: druk ; Forma literacka: Tekst nieliteracki ; Przeznaczenie czytelnicze: Odbiorca wyspecjalizowany; Szczegóły wydania: Warszawa : Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, 2016 Zasoby online: Okładka Spis treści Status: Egzemplarze dostępne do wypożyczenia: Biblioteka Politechniki Poznańskiej (7)Lokalizacja, sygnatura: w czytelni CzO 186936, ... Zamów
		O zmianach częstotliwości rezonansowej spektrometru z wiązką atomów cezu Cs 1³³ spowodowanych relatywistycznym efektem Dopplera / K. Sajkowska, K. Sikorski, A. Chachulski. O przesunięciu częstotliwości rezonansowej linii spektralnej spektrometru z wiązką atomów wodoru H / K. Dragoń. autor Sajkowska, Krystyna (fizyka) Chachulski, Andrzej, ( -2003) Sikorski, Krzysztof (materiałoznawstwo) Drogoń, Krystyna. O przesunięciu częstotliwości rezonansowej linii spektralnej spektrometru z wiązką atomów wodoru H Polska Akademia Nauk. Instytut Podstawowych Problemów Techniki [pbl] Serie: Prace IPPT ; 78/1977 Rodzaj materiału: Tekst; Format: druk ; Forma literacka: Tekst nieliteracki Szczegóły wydania: Warszawa : Instytut Podstawowych Problemów Techniki Polskiej Akademii Nauk PAN, 1977 Status: Egzemplarze dostępne do wypożyczenia: Biblioteka Instytutu Konstrukcji Budowlanych (1)Lokalizacja, sygnatura: Inst.Konstr.Bud. IKB Cz/105/77(78).
		Quantitative x-ray microanalysis beyond the resolution of the method / Krzysztof Sikorski. autor Sikorski, Krzysztof (materiałoznawstwo) Politechnika Warszawska. Oficyna Wydawnicza [] Rodzaj materiału: Tekst; Format: druk ; Forma literacka: Tekst nieliteracki Szczegóły wydania: Warszawa : Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, 2009 Zasoby online: Okładka Spis treści Status: Egzemplarze dostępne do wypożyczenia: Biblioteka Politechniki Poznańskiej (1)Lokalizacja, sygnatura: w czytelni A 163798.