Widok standardowy Widok MARC Widok ISBD

Metody statystycznej i wrażliwościowej analizy i optymalizacji układow : monografia z tematów: I. 2a, b, d Problemu Resortowego MNSZWiT 1.8 "Teoria Obwodów i Układów Elektronicznych" / opracowanie: Instytut Podstaw Elektroniki Politechniki Warszawskiej, Instytut Elektroniki Politechniki Śląskiej, Instytut Telekomunikacji Politechniki Gdańskiej.

Współtwórca(-y): Rodzaj materiału: TekstTekstSzczegóły wydania: Warszawa : [s.n.], 1981.Opis: 154 s. : il. ; 24 cmTyp zawartości:
  • Tekst
Tryb odtwarzania:
  • Bez urządzenia pośredniczącego
Typ nośnika:
  • Wolumin
Tematy:
Egzemplarze
Typ dokumentu Obecna biblioteka Kolekcja Sygnatura Status Kod kreskowy
Niewypożyczane Biblioteka Politechniki Poznańskiej w czytelni Czytelnia A 95718 Dostępny 0000110086
Liczba zamówień: 0

Bibliogr. przy wybranych rozdz.

Udostępnij