Pomiary elektryczne w diagnostyce produkcji układów scalonych LSI i VLSI / Andrzej Jakubowski, Wiesław Marciniak, Henryk Przewłocki.
Rodzaj materiału:
TekstJęzyk: polski Język streszczenia: angielski, rosyjski Serie: USE Układy i Systemy ElektroniczneSzczegóły wydania: Warszawa : Wydaw. Nauk.-Techniczne, 1991.Opis: 307 s. : il. ; 24 cmTyp zawartości: - Tekst
- Bez urządzenia pośredniczącego
- Wolumin
- 8320412277
| Typ dokumentu | Obecna biblioteka | Kolekcja | Sygnatura | Dział/Uwagi | Status | Kod kreskowy | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Niewypożyczane | Biblioteka Politechniki Poznańskiej w czytelni | Czytelnia | A 117303 | Dostępny | 001117303000 | ||
| Magazyn - Wypożyczane na zewnątrz z kolekcji MG | Biblioteka Politechniki Poznańskiej na półce | magazyn główny | Mg 117304 | Dostępny | 0000130193 | ||
| Magazyn - Wypożyczane na zewnątrz z kolekcji MG | Biblioteka Politechniki Poznańskiej na półce | magazyn główny | Mg 117305 | Dostępny | 0000130192 | ||
| Magazyn - Wypożyczane na zewnątrz z kolekcji W | Biblioteka Politechniki Poznańskiej na półce | magazyn skryptów | W 72022 | D 1 | Dostępny | 000072022000 | |
| Magazyn - Wypożyczane na 14 dni | Biblioteka Politechniki Poznańskiej na półce | magazyn skryptów | W 72022 | D 1 | Dostępny | 000072023000 |
Liczba zamówień: 0
Bibliogr. przy rozdziałach.
Streszcz. ang. i ros.