Wyniki wyszukiwania: 2.

Sortuj
Nie podświetlaj Podświetlaj
Zaznacz wszystko Wyczyść wszystko
Wyniki
Computed electron micrographs and defect identification / A. K. Head [et al.]. autor Serie: Defects in Crystalline Solids ; vol. 7
Rodzaj materiału: Tekst Tekst; Format: druk ; Forma literacka: Tekst nieliteracki ; Przeznaczenie czytelnicze: Odbiorca wyspecjalizowany;
Szczegóły wydania: Amsterdam ; London : New York : North-Holland Publishing Company ; American Elsevier Publishing Company, cop. 1973
Status: Egzemplarze dostępne do wypożyczenia: Biblioteka Politechniki Poznańskiej (1)Lokalizacja, sygnatura: w czytelni A 69964.
Computer processing of electron microscope images / ed. by P. W. Hawkes ; with contributions by J. Frank [et al.]. autor Serie: Topics in Current Physics ; 13
Rodzaj materiału: Tekst Tekst; Format: druk
Szczegóły wydania: Berlin [etc.] : Springer-Verlag, 1980
Status: Egzemplarze dostępne do wypożyczenia: Biblioteka Politechniki Poznańskiej (1)Lokalizacja, sygnatura: na półce Mg 94038.
Zamów