Widok standardowy Widok MARC Widok ISBD

Computed electron micrographs and defect identification / A. K. Head [et al.].

Współtwórca(-y): Rodzaj materiału: TekstTekstSerie: Defects in Crystalline Solids ; vol. 7Szczegóły wydania: Amsterdam ; London : North-Holland Publishing Company ; New York : American Elsevier Publishing Company, cop. 1973.Opis: X, 400 s. : il. ; 23 cmTyp zawartości:
  • Tekst
Tryb odtwarzania:
  • Bez urządzenia pośredniczącego
Typ nośnika:
  • Wolumin
ISBN:
  • 0720417570
  • 0444104623
Tematy:
Egzemplarze
Typ dokumentu Obecna biblioteka Kolekcja Sygnatura Status Kod kreskowy
Niewypożyczane Biblioteka Politechniki Poznańskiej w czytelni Czytelnia A 69964 Dostępny 001069964000
Liczba zamówień: 0

Bibliogr. s. 387-389. Indeks.

Udostępnij