Rozwój i zastosowanie zaawansowanych technik mikroskopii sił atomowych w diagnostyce materiałów elektrotechnicznych : wybrane zagadnienia / Andrzej Sikora ; Instytut Elektrotechniki.
Rodzaj materiału:
TekstJęzyk: polski Język oryginału: angielski Serie: Prace Instytutu Elektrotechniki ; z. 257 | Prace Instytutu Elektrotechniki. MonografiaSzczegóły wydania: Warszawa : Instytut Elektrotechniki, 2012.Opis: 186 s. : il. kolor. ; 24 cmTyp zawartości: - Tekst
- Bez urządzenia pośredniczącego
- Wolumin
| Typ dokumentu | Obecna biblioteka | Kolekcja | Sygnatura | Status | Kod kreskowy | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Niewypożyczane | Biblioteka Politechniki Poznańskiej w czytelni | czytelnia czasopism | Cz 207 | Dostępny | czp207h |
Liczba zamówień: 0
W serii gł.: ISSN 0032-6216, nr: 257.
Praca wydana w czasopiśmie: Prace Instytutu Elektrotechniki, z. 257.
W serii gł. nr 257.
Bibliogr. s. 163-184.
Spis treści i streszcz. także ang.