Semiconductor memories : technology, testing, and reliability / Ashok K. Sharma.
Rodzaj materiału:
TekstSzczegóły wydania: Hoboken : Wiley-Interscience ; New York : IEEE, the Institute of Electrical and Electronics Emgineers, cop. 1997.Opis: XII, 462 s. : il. ; 26 cmTyp zawartości: - Tekst
- Bez urządzenia pośredniczącego
- Wolumin
- 0780310004
| Typ dokumentu | Obecna biblioteka | Kolekcja | Sygnatura | Status | Kod kreskowy | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Niewypożyczane | Biblioteka Politechniki Poznańskiej w czytelni | Czytelnia | A 128090 | Dostępny | 0000125106 |
Liczba zamówień: 0
Bibliogr. przy rozdz. Indeks.
Sponsor: IEEE Solid-State Circuits Council