Wyniki wyszukiwania: 3.

Sortuj
Wyniki
Statistics for research / Shirley Dowdy and Stanley Wearden. autor Serie: Wiley Series in Probability and Mathematical Statistics. Applied Probability and Statistics
Rodzaj materiału: Tekst Tekst; Format: druk
Szczegóły wydania: New York : John Wiley & Sons, 1982
Status: Egzemplarze dostępne do wypożyczenia: Biblioteka Politechniki Poznańskiej (1)Lokalizacja, sygnatura: w czytelni A 116261.
Discriminant analysis and statistical pattern recognition [Dokument elektroniczny] / Geoffrey J. McLachlan. autor Serie: Wiley Series in Probability and Mathematical Statistics. Applied Probability and Statistics
Rodzaj materiału: Tekst Tekst; Format: elektroniczny dostępne online zdalny; Forma literacka: Tekst nieliteracki
Szczegóły wydania: Hoboken, N.J. : John Wiley & Sons, 2005
Status: Brak dostępnych egzemplarzy.
Outliers in statistical data / Vic Barnet and Toby Lewis. autor Serie: Wiley Series in Probability and Mathematical Statistics. Applied Probability and Statistics
Rodzaj materiału: Tekst Tekst; Format: druk ; Forma literacka: Tekst nieliteracki ; Przeznaczenie czytelnicze: Odbiorca wyspecjalizowany;
Szczegóły wydania: Chichester [i pozostałe] : John Wiley & Sons, copyright © 1978
Status: Egzemplarze dostępne do wypożyczenia: Biblioteka Politechniki Poznańskiej (1)Lokalizacja, sygnatura: w czytelni A 87554.