Wyniki wyszukiwania: 24.

Sortuj
Wyniki
Wpływ wybranych parametrów na wyniki pomiarów sprawdzających programowalnych mierników napięć powrotnych / Janusz Guzik. autor
Rodzaj materiału: Artykuł Artykuł; Format: druk ; Forma literacka: Tekst nieliteracki ; Przeznaczenie czytelnicze: Odbiorca wyspecjalizowany;
Język: polski Język streszczenia: angielski Metrologiczne właściwości programowanych przetworników pomiarowych Z. 195 (2005) = Nr 1670, strony 17-26 W: Zeszyty Naukowe. Elektryka Metrologiczne właściwości programowanych przetworników pomiarowych : prace Instytutu Metrologii i Automatyki Elektrotechnicznej Z. 195 (2005) = Nr 1670, strony 17-26 W: Zeszyty Naukowe. Elektryka Z. 195 (2005) = Nr 1670, strony 17-26 W: Metrologiczne właściwości programowanych przetworników pomiarowych : prace Instytutu Metrologii i Automatyki Elektrotechnicznej Strony 17-26
Status: Brak dostępnych egzemplarzy.
Topologia w metrologii na przykładzie warunku addytywności / Roman Marcin Olejnik. autor
Rodzaj materiału: Artykuł Artykuł; Format: druk ; Forma literacka: Tekst nieliteracki ; Przeznaczenie czytelnicze: Odbiorca wyspecjalizowany;
Język: polski Język streszczenia: angielski Metrologiczne właściwości programowanych przetworników pomiarowych Z. 195 (2005) = Nr 1670, strony 187-196 W: Zeszyty Naukowe. Elektryka Metrologiczne właściwości programowanych przetworników pomiarowych : prace Instytutu Metrologii i Automatyki Elektrotechnicznej Z. 195 (2005) = Nr 1670, strony 187-196 W: Zeszyty Naukowe. Elektryka Z. 195 (2005) = Nr 1670, strony 187-196 W: Metrologiczne właściwości programowanych przetworników pomiarowych : prace Instytutu Metrologii i Automatyki Elektrotechnicznej Strony 187-196
Status: Brak dostępnych egzemplarzy.
Przetworniki emulowane a pomiarowe przyrządy wirtualne - uwagi ogólne / Konrad Hejn. autor
Rodzaj materiału: Artykuł Artykuł; Format: druk ; Forma literacka: Tekst nieliteracki ; Przeznaczenie czytelnicze: Odbiorca wyspecjalizowany;
Język: polski Język streszczenia: angielski Metrologiczne właściwości programowanych przetworników pomiarowych Z. 195 (2005) = Nr 1670, strony 27-39 W: Zeszyty Naukowe. Elektryka Metrologiczne właściwości programowanych przetworników pomiarowych : prace Instytutu Metrologii i Automatyki Elektrotechnicznej Z. 195 (2005) = Nr 1670, strony 27-39 W: Zeszyty Naukowe. Elektryka Z. 195 (2005) = Nr 1670, strony 27-39 W: Metrologiczne właściwości programowanych przetworników pomiarowych : prace Instytutu Metrologii i Automatyki Elektrotechnicznej Strony 27-39
Status: Brak dostępnych egzemplarzy.
Analiza niepewności pomiarów wieloskładnikowych wykorzystujących czujniki jonoselektywne / Andrzej Kozyra. autor
Rodzaj materiału: Artykuł Artykuł; Format: druk ; Forma literacka: Tekst nieliteracki ; Przeznaczenie czytelnicze: Odbiorca wyspecjalizowany;
Język: polski Język streszczenia: angielski Metrologiczne właściwości programowanych przetworników pomiarowych Z. 195 (2005) = Nr 1670, strony 135-146 W: Zeszyty Naukowe. Elektryka Metrologiczne właściwości programowanych przetworników pomiarowych : prace Instytutu Metrologii i Automatyki Elektrotechnicznej Z. 195 (2005) = Nr 1670, strony 135-146 W: Zeszyty Naukowe. Elektryka Z. 195 (2005) = Nr 1670, strony 135-146 W: Metrologiczne właściwości programowanych przetworników pomiarowych : prace Instytutu Metrologii i Automatyki Elektrotechnicznej Strony 135-146
Status: Brak dostępnych egzemplarzy.
Inteligentne systemy pomiarowo-sterujące / Emil Michta. autor
Rodzaj materiału: Artykuł Artykuł; Format: druk ; Forma literacka: Tekst nieliteracki ; Przeznaczenie czytelnicze: Odbiorca wyspecjalizowany;
Język: polski Język streszczenia: angielski Metrologiczne właściwości programowanych przetworników pomiarowych Z. 195 (2005) = Nr 1670, strony 157-172 W: Zeszyty Naukowe. Elektryka Metrologiczne właściwości programowanych przetworników pomiarowych : prace Instytutu Metrologii i Automatyki Elektrotechnicznej Z. 195 (2005) = Nr 1670, strony 157-172 W: Zeszyty Naukowe. Elektryka Z. 195 (2005) = Nr 1670, strony 157-172 W: Metrologiczne właściwości programowanych przetworników pomiarowych : prace Instytutu Metrologii i Automatyki Elektrotechnicznej Strony 157-172
Status: Brak dostępnych egzemplarzy.
Ocena metrologiczna wielkości mierzonych i odtwarzanych w tomografii impedancyjnej / Łukasz Oskwarek. autor
Rodzaj materiału: Artykuł Artykuł; Format: druk ; Forma literacka: Tekst nieliteracki ; Przeznaczenie czytelnicze: Odbiorca wyspecjalizowany;
Język: polski Język streszczenia: angielski Metrologiczne właściwości programowanych przetworników pomiarowych Z. 195 (2005) = Nr 1670, strony 197-208 W: Zeszyty Naukowe. Elektryka Metrologiczne właściwości programowanych przetworników pomiarowych : prace Instytutu Metrologii i Automatyki Elektrotechnicznej Z. 195 (2005) = Nr 1670, strony 197-208 W: Zeszyty Naukowe. Elektryka Z. 195 (2005) = Nr 1670, strony 197-208 W: Metrologiczne właściwości programowanych przetworników pomiarowych : prace Instytutu Metrologii i Automatyki Elektrotechnicznej Strony 197-208
Status: Brak dostępnych egzemplarzy.
Uwagi na temat projektowania przetworników pomiarowych o nieliniowej dynamice / Adam Żuchowski. autor
Rodzaj materiału: Artykuł Artykuł; Format: druk ; Forma literacka: Tekst nieliteracki ; Przeznaczenie czytelnicze: Odbiorca wyspecjalizowany;
Język: polski Język streszczenia: angielski Metrologiczne właściwości programowanych przetworników pomiarowych Z. 195 (2005) = Nr 1670, strony 267-280 W: Zeszyty Naukowe. Elektryka Metrologiczne właściwości programowanych przetworników pomiarowych : prace Instytutu Metrologii i Automatyki Elektrotechnicznej Z. 195 (2005) = Nr 1670, strony 267-280 W: Zeszyty Naukowe. Elektryka Z. 195 (2005) = Nr 1670, strony 267-280 W: Metrologiczne właściwości programowanych przetworników pomiarowych : prace Instytutu Metrologii i Automatyki Elektrotechnicznej Strony 267-280
Status: Brak dostępnych egzemplarzy.
Kalibracja dalmierza laserowego z wykorzystaniem logiki rozmytej / Tadeusz Sondej, Ryszard Pełka. autor
Rodzaj materiału: Artykuł Artykuł; Format: druk ; Forma literacka: Tekst nieliteracki ; Przeznaczenie czytelnicze: Odbiorca wyspecjalizowany;
Język: polski Język streszczenia: angielski Metrologiczne właściwości programowanych przetworników pomiarowych Z. 195 (2005) = Nr 1670, strony 209-220 W: Zeszyty Naukowe. Elektryka Metrologiczne właściwości programowanych przetworników pomiarowych : prace Instytutu Metrologii i Automatyki Elektrotechnicznej Z. 195 (2005) = Nr 1670, strony 209-220 W: Zeszyty Naukowe. Elektryka Z. 195 (2005) = Nr 1670, strony 209-220 W: Metrologiczne właściwości programowanych przetworników pomiarowych : prace Instytutu Metrologii i Automatyki Elektrotechnicznej Strony 209-220
Status: Brak dostępnych egzemplarzy.
Analiza błędów przemysłowego przetwornika PPS-10 / Zbigniew Świder, Bartosz Trybus. autor
Rodzaj materiału: Artykuł Artykuł; Format: druk ; Forma literacka: Tekst nieliteracki ; Przeznaczenie czytelnicze: Odbiorca wyspecjalizowany;
Język: polski Język streszczenia: angielski Metrologiczne właściwości programowanych przetworników pomiarowych Z. 195 (2005) = Nr 1670, strony 233-243 W: Zeszyty Naukowe. Elektryka Metrologiczne właściwości programowanych przetworników pomiarowych : prace Instytutu Metrologii i Automatyki Elektrotechnicznej Z. 195 (2005) = Nr 1670, strony 233-243 W: Zeszyty Naukowe. Elektryka Z. 195 (2005) = Nr 1670, strony 233-243 W: Metrologiczne właściwości programowanych przetworników pomiarowych : prace Instytutu Metrologii i Automatyki Elektrotechnicznej Strony 233-243
Status: Brak dostępnych egzemplarzy.
Wyznaczanie niepewności wyniku pomiaru w systemie czasu rzeczywistego z uwzględnieniem opóźnień / Roman Żurkowski. autor
Rodzaj materiału: Artykuł Artykuł; Format: druk ; Forma literacka: Tekst nieliteracki ; Przeznaczenie czytelnicze: Odbiorca wyspecjalizowany;
Język: polski Język streszczenia: angielski Metrologiczne właściwości programowanych przetworników pomiarowych Z. 195 (2005) = Nr 1670, strony 281-287 W: Zeszyty Naukowe. Elektryka Metrologiczne właściwości programowanych przetworników pomiarowych : prace Instytutu Metrologii i Automatyki Elektrotechnicznej Z. 195 (2005) = Nr 1670, strony 281-287 W: Zeszyty Naukowe. Elektryka Z. 195 (2005) = Nr 1670, strony 281-287 W: Metrologiczne właściwości programowanych przetworników pomiarowych : prace Instytutu Metrologii i Automatyki Elektrotechnicznej Strony 281-287
Status: Brak dostępnych egzemplarzy.
Niedokładność współrzędnych punktu w przestrzeni euklidesowej / Janusz Marian Jaworski. autor
Rodzaj materiału: Artykuł Artykuł; Format: druk ; Forma literacka: Tekst nieliteracki ; Przeznaczenie czytelnicze: Odbiorca wyspecjalizowany;
Język: polski Język streszczenia: angielski Metrologiczne właściwości programowanych przetworników pomiarowych Z. 195 (2005) = Nr 1670, strony 91-100 W: Zeszyty Naukowe. Elektryka Metrologiczne właściwości programowanych przetworników pomiarowych : prace Instytutu Metrologii i Automatyki Elektrotechnicznej Z. 195 (2005) = Nr 1670, strony 91-100 W: Zeszyty Naukowe. Elektryka Z. 195 (2005) = Nr 1670, strony 91-100 W: Metrologiczne właściwości programowanych przetworników pomiarowych : prace Instytutu Metrologii i Automatyki Elektrotechnicznej Strony 91-100
Status: Brak dostępnych egzemplarzy.