000			01875cam a2200361 i 4500
001			xx005653784
003			NUKAT
005			20251228224032.0
008			231120s2023 pl a f |000 0 pol c
020			_a9788301231583
035			_a(OCoLC)1423796573
040			_aWA 510/JS _bpol _erda _cWA 510/JS _dWA 510/EZ _dKR 048/PK _dOLSZT 003/DSs
100	1		_aAdamczak, Stanisław _d(1948- ). _eAutor _91527
245	1	0	_aMetrologia geometryczna powierzchni technologicznych : _bzarysy kształtu, falistość, mikro- i nanochropowatość / _cStanisław Adamczak.
250			_aWydanie I, dodruk I.
260			_aWarszawa : _bWydawnictwo Naukowe PWN, _c2023.
300			_a436 stron : _bilustracje ; _c24 cm.
336			_aTekst
337			_aBez urządzenia pośredniczącego
338			_aWolumin
504			_aBibliografia na stronach 420-432.
521	8		_aPublikacja kierowana jest do metrologów, technologów oraz konstruktorów urządzeń i aparatury pomiarowej, pracowników służb kontrolno-pomiarowych i utrzymania ruchu, przemysły maszynowego czy specjalistów projektowania przemysłowego. Nadaje się również jako lektura dla studentów kierunków technicznych typu mechanika i budowa maszyn, inżynieria produkcji i materiałowa czy mechatronika, elektrotechnika, inżynieria medyczna czy logistyka.
530			_aKsiążka dostępna również jako e-book.
650		7	_aPowierzchnie (matematyka) _xpomiar. _2kaba _920686
650		7	_aPowierzchnie (technologia) _xmodele matematyczne. _2kaba _964693
710	2		_aWydawnictwo Naukowe PWN _eWydawca _4pbl
856	4	1	_3Spis treści _uhttps://www.biblos.pk.edu.pl/ST/2023/11/100000345397/100000345397_Adamczak_MetrologiaGeometryczna.pdf
920			_a978-83-01-23158-3
999			_c138178 _d138178