| 000 | 00596cam a2200169 i 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 005 | 20251228112347.0 | ||
| 008 | 990305s | ||
| 040 | _aP 30 | ||
| 041 | 0 | _ager | |
| 080 | _a621.382 | ||
| 100 | 1 |
_aBänziger Urs-Peter. _9199494 |
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| 245 | 1 | 0 |
_aUntersuchungen zur Schichtdickenabhangigkeit von Beweglichkeit und Dotierung in epitaxialen Siliziumschichten auf Spinell und Saphir.[Praca doktorska] / _cBänziger Urs-Peter. |
| 260 |
_aZürich : _bbrak, _c1977. |
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| 300 |
_a92s.,bibliogr. ; _c24cm. |
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| 500 | _aZürich,Eidgenössischen Techn.Hochschule. | ||
| 999 |
_c1401 _d1401 |
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