| 000 | 01049nam a2200241 i 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | to2005041693 | ||
| 005 | 20251228132502.0 | ||
| 008 | 050124e pl ||||| |||||000 0|pol u | ||
| 020 | _a8324339175 | ||
| 040 | _aPOZN 31/HS | ||
| 041 | 0 | _apol | |
| 088 | _a31.080.01 | ||
| 245 | 0 | 0 | _aPrzyrządy półprzewodnikowe - Badania mechaniczne i klimatyczne - Część 9: Trwałość oznakowania PN-EN 60749-9. |
| 246 | 3 | _aPN-EN 60749-9: 2004 | |
| 246 | 1 | 3 |
_iInny tytuł: _aSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking (IEC 60749-9: 2002) |
| 260 | 0 | 0 |
_aWarszawa : _bPolski Komitet Normalizacyjny, _c2004. |
| 300 |
_a6 s. ; _c30 cm. |
||
| 500 | _aNiniejsza norma jest polską wersją normy europejskiej EN 60749-9: 2002. Została ona przetłumaczona przez Polski Komitet Normalizacyjny i ma ten sam status co wersje oficjalne. | ||
| 590 | _aZamiast : PN-EN 60749-9: 2003 (U) ; zatwierdzona przez Prezesa PKN dnia 13 maja 2004 r. | ||
| 999 |
_c23102 _d23102 |
||