| 000 | 01881cam a2200361 i 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | zz2007905991 | ||
| 003 | NUKAT | ||
| 005 | 20251228142856.0 | ||
| 008 | 070418s2007 pl f u |000 0 pol c | ||
| 020 | _a9788325120535 | ||
| 035 | _a(OCoLC)749372034 | ||
| 040 |
_aKIEL 008/JK _cKIEL 008/JK _dKIEL 008/LD |
||
| 041 | 1 |
_apol _heng |
|
| 088 | _a31.080.01 | ||
| 245 | 0 | 0 |
_aPrzyrządy półprzewodnikowe - Badania mechaniczne i klimatyczne - Część 30: Wstępne narażanie niehermetycznych przyrządów przeznaczonych do montażu powierzchniowego przed badaniami nieuszkadzalności PN-EN 60749-30 / _cPolski Komitet Normalizacyjny. |
| 246 | 1 | 3 | _aSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing (IEC 60749-30:2005) |
| 246 | 3 | 0 | _aPN-EN 60749-30:2007 |
| 246 | 3 | 0 | _aWstępne narażanie niehermetycznych przyrządów przeznaczonych do montażu powierzchniowego przed badaniami nieuszkadzalności |
| 260 |
_aWarszawa : _bPolski Komitet Normalizacyjny, _c2007. |
||
| 300 |
_a2, 13 s. ; _c30 cm. |
||
| 336 | _aTekst | ||
| 337 | _aBez urządzenia pośredniczącego | ||
| 338 | _aWolumin | ||
| 500 | _aNiniejsza norma jest polską wersją Normy Europejskiej EN 60749-30: 2005. Została ona przetłumaczona przez Polski Komitet Normalizacyjny i ma ten sam status co wersje oficjalne. | ||
| 500 | _aICS 31.080.01. | ||
| 500 | _aZawiera tab. | ||
| 590 | _aWprowadza EN 60749-30:2005, IDT; IEC 60749-30:2005, IDT; Zastępuje PN-EN 60749-30:2005 (U); Zatwierdzona 31 stycznia 2007 r. | ||
| 710 | 1 |
_aPolska. _bPolski Komitet Normalizacyjny. |
|
| 710 | 1 |
_aPolska. _bPolski Komitet Normalizacyjny. _bWydział Wydawnictw Normalizacyjnych. _4pbl _9101635 |
|
| 920 | _a978-83-251-2053-5 | ||
| 999 |
_c38220 _d38220 |
||