000 01412cam a2200385 i 4500
001 xx001363880
003 NUKAT
005 20251228151303.0
008 090602s2009 gw a |001 0 eng c
020 _a9783540850366
020 _a9783540850373
_qe
035 _a(OCoLC)1424158809
040 _aPOZN 31/EG
_cPOZN 31/EG
_dPOZN 31/MK
_dTOR U/WS
080 _a621.385.833
080 _a620.186
245 0 0 _aApplied scanning probe methods XI :
_bscanning probe microscopy techniques /
_cBharat Bhushan, Harald Fuchs (eds.).
260 _aBerlin ;
_aHeidelberg :
_bSpringer-Verlag,
_c2009.
300 _aLV, 235 s. :
_bil. kol. ;
_c24 cm.
336 _aTekst
337 _aBez urządzenia pośredniczącego
338 _aWolumin
490 1 _aNanoscience and Technology,
_x1434-4904
504 _aBibliogr. przy rozdz. Indeks.
530 _aDostępne również w formie elektronicznej.
650 7 _aMateriały
_xmikroskopia.
_2kaba
_922269
650 7 _aMikroskopia sondy skaningowej.
_2kaba
_913488
700 1 _aBhushan, Bharat
_d(1949- ).
_eRed.
_944749
700 1 _aFuchs, Harald.
_eRed.
_968588
830 0 _aNanoscience and Technology
_x1434-4904
_968587
856 4 1 _uhttps://www.infona.pl/resource/isbn/9783540850366
_zLicencja krajowa
920 _a978-3-540-85036-6
920 _a978-3-540-85037-3
_qe
999 _c48638
_d48638