Tutorial test generation for VLSI CHIPS / (Rekord nr 64230)
| 000 -ETYKIETA REKORDU | |
|---|---|
| pole stałej długości | 01121cam a2200313 i 4500 |
| 001 - NUMER KONTROLNY REKORDU | |
| control field | zz2006969869 |
| 003 - IDENTYFIKATOR NUMERU KONTROLNEGO | |
| control field | NUKAT |
| 005 - DATA OSTATNIEJ MODYFIKACJI REKORDU | |
| control field | 20251228161715.0 |
| 008 - DANE KONTROLNE (POLA STAŁEJ DŁUGOŚCI) | |
| pole stałej długości | 060619s1988 xxua f |000 0deng c |
| 020 ## - MIĘDZYNARODOWY ZNORMALIZOWANY NUMER KSIĄŻKI | |
| Międzynarodowy Znormalizowany Numer Książki | 081868786X |
| 035 ## - NUMER SYSTEMOWY REKORDU | |
| Numer systemowy | (OCoLC)1412981725 |
| 040 ## - INSTYTUCJA SPORZĄDZAJĄCA REKORD | |
| Instytucja, która sporządziła opis | KIEL 008/JK |
| Instytucja, która wprowadziła rekord | KIEL 008/JK |
| Instytucja, która zmodyfikowała rekord | KIEL 008/JS |
| 080 ## - UNIVERSAL DECIMAL CLASSIFICATION NUMBER | |
| Universal Decimal Classification number | 621.38 |
| -- | 681.3 |
| 100 1# - HASŁO GŁÓWNE - NAZWA OSOBOWA | |
| Nazwa osobowa | Agrawal, Vishwani D. |
| Daty biograficzne | (1943- ). |
| 9 (RLIN) | 84592 |
| 245 10 - STREFA TYTUŁU I OZNACZENIA ODPOWIEDZIALNOŚCI | |
| Tytuł | Tutorial test generation for VLSI CHIPS / |
| Pozostałe elementy strefy tytułu i oznaczenia odpowiedzialności | Vishwani D. Agrawal and Sharad C. Seth. ; IEEE Computer Society. |
| 246 30 - WARIANT TYTUŁU | |
| Tytuł | Test generation for VLSI CHIPS |
| 260 ## - STREFA ADRESU WYDAWNICZEGO | |
| Miejsce wydania | Washington : |
| Nazwa wydawcy | Computer Society Press ; |
| Miejsce wydania | Los Angeles : |
| Nazwa wydawcy | Computer Society, |
| Data wydania | cop. 1988. |
| 300 ## - STREFA OPISU FIZYCZNEGO | |
| Określenie formy dokumentu i/lub objętość | X, 401 s. : |
| Oznaczenie ilustracji | il. ; |
| Format | 29 cm. |
| 336 ## - TYP ZAWARTOŚCI | |
| -- | Tekst |
| 337 ## - TYP MEDIÓW | |
| -- | Bez urządzenia pośredniczącego |
| 338 ## - TYP NOŚNIKA | |
| -- | Wolumin |
| 504 ## - UWAGA DOTYCZĄCA BIBLIOGRAFII ZAŁĄCZNIKOWEJ | |
| Uwaga dotycząca bibliografii | Bibliogr. przy ref. oraz na s. 333-394. |
| 536 ## - UWAGA DOTYCZĄCA FINANSOWANIA WYDAWNICTWA | |
| Tekst uwagi | Finansowane przez Test Technology Technical Committee. |
| 650 #7 - HASŁO PRZEDMIOTOWE - NAZWA POSPOLITA | |
| Nazwa pospolita | Układy VLSI. |
| Źródło terminu | kaba |
| 9 (RLIN) | 9885 |
| 700 1# - HASŁO DODATKOWE - NAZWA OSOBOWA | |
| Nazwa osobowa | Seth, Sharad C. |
| 9 (RLIN) | 84593 |
| 920 ## - MIĘDZYNARODOWY ZNORMALIZOWANY NUMER KSIĄŻKI | |
| Międzynarodowy Znormalizowany Numer Książki | 0-8186-8786-X |
| Status wycofania | Status zagubienia | Klasyfikacja | Status uszkodzenia | Blokada wypożyczeń | Kolekcja | Biblioteka macierzysta | Bieżąca biblioteka | Pozycja na półce | Data nabycia | Cena | Nr inwentarzowy | Ogółem wypożyczeń | Sygnatura | Kod kreskowy | Ostatnio widziano | Cena zast. od dnia | Typ egz. |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Library of Congress Classification | Czytelnia | Biblioteka Politechniki Poznańskiej | Biblioteka Politechniki Poznańskiej | w czytelni | 13/04/1999 | 9.90 | 001119671000 | A 119671 | 001119671000 | 28/12/2025 | 28/12/2025 | Niewypożyczane |