Tutorial test generation for VLSI CHIPS / Vishwani D. Agrawal and Sharad C. Seth. ; IEEE Computer Society.
Rodzaj materiału:
TekstSzczegóły wydania: Washington : Computer Society Press ; Los Angeles : Computer Society, cop. 1988.Opis: X, 401 s. : il. ; 29 cmTyp zawartości: - Tekst
- Bez urządzenia pośredniczącego
- Wolumin
- 081868786X
- Test generation for VLSI CHIPS
| Typ dokumentu | Obecna biblioteka | Kolekcja | Sygnatura | Status | Kod kreskowy | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Niewypożyczane | Biblioteka Politechniki Poznańskiej w czytelni | Czytelnia | A 119671 | Dostępny | 001119671000 |
Liczba zamówień: 0
Bibliogr. przy ref. oraz na s. 333-394.
Finansowane przez Test Technology Technical Committee.