Dostosuj wyszukiwanie

Wyniki wyszukiwania: 48.

Sortuj
Wyniki
Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych : zarysy kształtu, falistość, mikro- i nanochropowatość [dokument elektroniczny] / Stanisław Adamczak. autor
Rodzaj materiału: Tekst Tekst; Format: elektroniczny ; Forma literacka: Tekst nieliteracki
Szczegóły wydania: Warszawa : Wydawnictwo Naukowe PWN SA, 2023
Status: Brak dostępnych egzemplarzy.
Słowo wstępne = Foreword / Stanisław Adamczak. autor
Rodzaj materiału: Artykuł Artykuł; Format: druk ; Forma literacka: Tekst nieliteracki ; Przeznaczenie czytelnicze: Ogólne;
Język: polski, angielski Język oryginału: polski
Inny tytuł:
  • Foreword
Politechnika Świętokrzyska = Strony 3-5 W: Politechnika Świętokrzyska = Kielce University of Technology Strony 3-5 W: Politechnika Świętokrzyska = Kielce University of Technology Strony 3-5
Status: Brak dostępnych egzemplarzy.
Science report - Project PL-127 Measuring Technology in Advanced Machine Manufacturing Systems, CEEPUS / general eds.: Stanisław Adamczak, Herbert Osanna ; [reviewers Stanisław Adamczak et al.] ; Kielce University of Technology. autor
Rodzaj materiału: Tekst Tekst; Format: druk ; Forma literacka: Tekst nieliteracki
Język: angielski, niemiecki Język streszczenia: angielski, niemiecki
Szczegóły wydania: Kielce : Wydawnictwo PŚ, cop. 2004
Status: Egzemplarze dostępne do wypożyczenia: Biblioteka Politechniki Poznańskiej (1)Lokalizacja, sygnatura: w czytelni A 151364.
Project PL-1 Metrology in Quality Assurance Systems, CEEPUS : science report / general ed.: Stanisław Adamczak, P. Herbert Osanna ; Kielce University of Technology. autor
Rodzaj materiału: Tekst Tekst; Format: druk ; Forma literacka: Tekst nieliteracki
Język: engger Język streszczenia: engger
Szczegóły wydania: Kielce : Wydaw. Politechniki Świętokrzyskiej, 1998
Status: Egzemplarze dostępne do wypożyczenia: Biblioteka Politechniki Poznańskiej (1)Lokalizacja, sygnatura: w czytelni A 129469.
Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych : zarysy kształtu, falistość, mikro- i nanochropowatość / Stanisław Adamczak. autor
Wydanie: Wydanie I.
Rodzaj materiału: Tekst Tekst; Format: druk ; Forma literacka: Tekst nieliteracki ; Przeznaczenie czytelnicze: Odbiorca wyspecjalizowany;
Szczegóły wydania: Warszawa : Wydawnictwo Naukowe PWN, copyright 2023
Zasoby online:
Status: Egzemplarze dostępne do wypożyczenia: Biblioteka Politechniki Poznańskiej (4)Lokalizacja, sygnatura: w czytelni CzO 203821, ... Niedostępny: Biblioteka Politechniki Poznańskiej: Wypożyczono (1).
Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych : zarysy kształtu, falistość, mikro- i nanochropowatość / Stanisław Adamczak. autor
Wydanie: Wydanie I, dodruk I.
Rodzaj materiału: Tekst Tekst; Format: druk ; Forma literacka: Tekst nieliteracki ; Przeznaczenie czytelnicze: Odbiorca wyspecjalizowany;
Szczegóły wydania: Warszawa : Wydawnictwo Naukowe PWN, 2023
Zasoby online:
Status: Egzemplarze dostępne do wypożyczenia: Biblioteka Politechniki Poznańskiej (3)Lokalizacja, sygnatura: w czytelni CzO 204287, ...
Metrologia w systemach jakości - 3 : VI Sympozjum Klubu Polskie Forum ISO 9000, Kielce, 16-18 października 2000 r. T. 2 / pod patronatem Polskiego Centrum Badań i Certyfikacji ; [oprac. Stanisław Adamczak]. autor
Rodzaj materiału: Tekst Tekst; Format: druk publikacja jubileuszowa ; Forma literacka: Tekst nieliteracki
Szczegóły wydania: Kielce : Wydaw. Politechniki Świętokrzyskiej, 2000
Status: Egzemplarze dostępne do wypożyczenia: Biblioteka Politechniki Poznańskiej (1)Lokalizacja, sygnatura: w czytelni A 140803/2.
Science report - Project CIII - PL-0007 : Research on Modern Systems for Manufacture and Measurement of Components of Machines and Devices, CEEPUS / general editor: Stanisław Adamczak ; Kielce University of Technology. autor
Rodzaj materiału: Tekst Tekst; Format: druk ; Forma literacka: Tekst nieliteracki ; Przeznaczenie czytelnicze: Odbiorca wyspecjalizowany;
Szczegóły wydania: Kielce : Wydawnictwo Politechniki Świętokrzyskiej, 2016
Zasoby online:
Status: Egzemplarze dostępne do wypożyczenia: Biblioteka Politechniki Poznańskiej (1)Lokalizacja, sygnatura: w czytelni A 189250.
Sammelheft des Projektes PL-1 des mitteleuropäischen Programms des Austausches der Universitätsstudien CEEPUS / unter der Red. von Stanisław Adamczak, P. Herbert Osanna ; Technische Universität in Kielce. autor
Rodzaj materiału: Tekst Tekst; Format: druk ; Forma literacka: Tekst nieliteracki ; Przeznaczenie czytelnicze: Odbiorca wyspecjalizowany;
Szczegóły wydania: Kielce : Wydawnictwo Politechniki Świętokrzyskiej, 1996
Status: Egzemplarze dostępne do wypożyczenia: Biblioteka Politechniki Poznańskiej (1)Lokalizacja, sygnatura: w czytelni A 127047.
VI Kongres Metrologii pod hasłem Metrologia królową badań stosowanych, Kielce-Sandomierz, 19-22 czerwca 2013 r. : materiały konferencyjne / [oprac. red.: Stanisław Adamczak, Włodzimierz Makieła]. autor
Rodzaj materiału: Tekst Tekst; Format: druk ; Forma literacka: Tekst nieliteracki ; Przeznaczenie czytelnicze: Odbiorca wyspecjalizowany;
Język: polski, angielski Język streszczenia: angielski, polski
Szczegóły wydania: Kielce : Wydawnictwo Politechniki Świętokrzyskiej, 2013
Inny tytuł:
  • Kongres Metrologii, 6
  • Metrologia królową badań stosowanych, Kielce-Sandomierz, 19-22 czerwca 2013 r.
Status: Egzemplarze dostępne do wypożyczenia: Biblioteka Politechniki Poznańskiej (1)Lokalizacja, sygnatura: w czytelni A 177735.
Ćwiczenia laboratoryjne z podstaw metrologii / Stanisław Adamczak, Ewa Sender. autor Serie: Skrypty Uczelniane Politechniki Świętokrzyskiej ; 216
Rodzaj materiału: Tekst Tekst; Format: druk ; Forma literacka: Tekst nieliteracki
Szczegóły wydania: Kielce : Politechnika Świętokrzyska, 1992
Status: Egzemplarze dostępne do wypożyczenia: Biblioteka Politechniki Poznańskiej (1)Lokalizacja, sygnatura: w czytelni A 119437.
Science report - Project PL-1 Computer-aided systems for manufacture and measurement of machine elements, CEEPUS / general ed. Stanisław Adamczak, Herbert Osanna ; [reviewers Stanisław Adamczak et al.] ; Kielce University of Technology. autor
Rodzaj materiału: Tekst Tekst; Format: druk
Język: angielski, niemiecki Język streszczenia: angielski, niemiecki
Szczegóły wydania: Kielce : Wydaw. PŚ, 2003
Status: Egzemplarze dostępne do wypożyczenia: Biblioteka Politechniki Poznańskiej (1)Lokalizacja, sygnatura: w czytelni A 147320.
Science report - Project PL-0007 : Computer-aided systems for the manufacture and measurement of machine elements, CEEPUS / general eds.: Stanisław Adamczak, Herbert Osanna ; Kielce University of Technology. autor
Rodzaj materiału: Tekst Tekst; Format: druk ; Forma literacka: Tekst nieliteracki
Język: angielski, niemiecki Język streszczenia: angielski, niemiecki
Szczegóły wydania: Kielce : Wydawnictwo Politechniki Świętokrzyskiej, 2010
Inny tytuł:
  • Computer-aided systems for the manufacture and measurement of machine elements
Status: Egzemplarze dostępne do wypożyczenia: Biblioteka Politechniki Poznańskiej (1)Lokalizacja, sygnatura: w czytelni A 170716.
Terotechnologia 2009 : materiały konferencji na ekspozycji METAL i CONTROL-TECH Targi - Kielce (29.09-01.10.2009) / [kom. nauk. konf.: Stanisław Adamczak et al.]. autor Serie: Zeszyty Naukowe - Politechnika Świętokrzyska ; 13 | Nauki Techniczne - Politechnika Świętokrzyska. Budowa i Eksploatacja Maszyn
Rodzaj materiału: Tekst Tekst; Format: druk ; Forma literacka: Tekst nieliteracki ; Przeznaczenie czytelnicze: Odbiorca wyspecjalizowany;
Język: polski, angielski, niemiecki, rosyjski Język streszczenia: angielski
Szczegóły wydania: Kielce : Wydawnictwo Politechniki Świętokrzyskiej w Kielcach, 2009
Status: Egzemplarze dostępne do wypożyczenia: Biblioteka Politechniki Poznańskiej (1)Lokalizacja, sygnatura: w czytelni Cz 5388.
ICPM 2007 : IV International Congress on Precision Machining 2007, September 25-28, 2007 : proceedings. Vol. 1 / eds: S. Adamczak, K. Stępień. autor
Rodzaj materiału: Tekst Tekst; Format: druk ; Forma literacka: Tekst nieliteracki ; Przeznaczenie czytelnicze: Odbiorca wyspecjalizowany;
Szczegóły wydania: Kielce : University of Technology, 2007
Inny tytuł:
  • ICPM 2007 : proceedings
  • International Congress on Precision Machining, 4
Status: Egzemplarze dostępne do wypożyczenia: Biblioteka Politechniki Poznańskiej (1)Lokalizacja, sygnatura: w czytelni A 157999/1.
ICPM 2007 : IV International Congress on Precision Machining 2007, September 25-28, 2007 : proceedings. Vol. 2 / eds: S. Adamczak, K. Stępień. autor
Rodzaj materiału: Tekst Tekst; Format: druk ; Forma literacka: Tekst nieliteracki ; Przeznaczenie czytelnicze: Odbiorca wyspecjalizowany;
Szczegóły wydania: Kielce : University of Technology, 2007
Inny tytuł:
  • ICPM 2007 : proceedings
  • International Congress on Precision Machining, 4
Status: Egzemplarze dostępne do wypożyczenia: Biblioteka Politechniki Poznańskiej (1)Lokalizacja, sygnatura: w czytelni A 158000/2.
Science report Project PL-0007 Modern Metrology in Quality Management Systems, CEEPUS / general eds.: Stanisław Adamczak, P. Herbert Osanna ; Kielce University of Technology. autor
Rodzaj materiału: Tekst Tekst; Format: druk ; Forma literacka: Tekst nieliteracki ; Przeznaczenie czytelnicze: Odbiorca wyspecjalizowany;
Język: angielski, niemiecki Język streszczenia: angielski, niemiecki
Szczegóły wydania: Kielce : Wydawnictwo Politechniki Świętokrzyskiej, cop. 2006
Status: Egzemplarze dostępne do wypożyczenia: Biblioteka Politechniki Poznańskiej (1)Lokalizacja, sygnatura: w czytelni A 158414.
Podstawy metrologii i inżynierii jakości dla mechaników : ćwiczenia praktyczne / Stanisław Adamczak, Włodzimierz Makieła. autor
Wydanie: Wyd. I.
Rodzaj materiału: Tekst Tekst; Format: druk ; Forma literacka: Tekst nieliteracki ; Przeznaczenie czytelnicze: Ogólne;
Szczegóły wydania: Warszawa : Wydawnictwa Naukowo-Techniczne, 2010
Status: Egzemplarze dostępne do wypożyczenia: Biblioteka Politechniki Poznańskiej (20)Lokalizacja, sygnatura: w czytelni A 169590, ... Niedostępny: Biblioteka Politechniki Poznańskiej: Wypożyczono (1).
Ćwiczenia laboratoryjne z podstaw metrologii / Stanisław Adamczak, Ewa Sender. autor Serie: Skrypty - Politechnika Świętokrzyska ; 284
Wydanie: Wyd. 3.
Rodzaj materiału: Tekst Tekst; Format: druk
Szczegóły wydania: Kielce : Wydaw. Politechniki Świętokrzyskiej, 1996
Status: Egzemplarze dostępne do wypożyczenia: Biblioteka Politechniki Poznańskiej (1)Lokalizacja, sygnatura: na półce Mg 125214.
Sterowane zawieszenia pojazdów : Prof. dr inż. Janusz Krzysztof Kowal, Doktor Honoris Causa Politechniki Świętokrzyskiej / Janusz Krzysztof Kowal ; [opracowanie Stanisław Adamczak]. autor
Rodzaj materiału: Tekst Tekst; Format: druk ; Forma piśmiennicza: biografia; Forma literacka: Tekst nieliteracki ; Przeznaczenie czytelnicze: Ogólne;
Szczegóły wydania: Kielce : Wydawnictwo Politechniki Świętokrzyskiej, 2016
Inny tytuł:
  • Prof. dr inż. Janusz Krzysztof Kowal, Doktor Honoris Causa Politechniki Świętokrzyskiej
Status: Egzemplarze dostępne do wypożyczenia: Biblioteka Politechniki Poznańskiej (1)Lokalizacja, sygnatura: w czytelni A 189494.