Structural and chemical analysis of materials : x-ray, electron and neutron diffraction ; x-ray, electron and ion spectrometry ; electron microscopy / J. P. Eberhart ; translated by J. P. Eberhart.
Rodzaj materiału:
TekstJęzyk: angielski Język oryginału: francuski Szczegóły wydania: Chichester : John Wiley & Sons, 1991.Opis: XXX, 545 strony : ilustracje ; 26 cmTyp zawartości: - Tekst
- Bez urządzenia pośredniczącego
- Wolumin
- 0471950149
- X-ray, electron and neutron diffraction
- X-ray, electron and ion spectrometry
- Electron microscopy
- Tytuł oryginału: Analyse structurale et chimique des matériaux
| Typ dokumentu | Obecna biblioteka | Kolekcja | Sygnatura | Dział/Uwagi | Status | Termin zwrotu | Kod kreskowy | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Magazyn - Wypożyczane na zewnątrz z kolekcji W | Biblioteka Politechniki Poznańskiej wypożyczony | magazyn skryptów | W 197715 | E 3.2 | Wypożyczono | 13/10/2026 | 0000241715 |
Liczba zamówień: 0
Bibliografia przy rozdziałach. Indeks.