Wyszukiwanie zaawansowane

Wyniki wyszukiwania: 6.

Wyniki
		Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych : zarysy kształtu, falistość, mikro- i nanochropowatość / Stanisław Adamczak. autor Adamczak, Stanisław, (1948- ) [Autor] Wydawnictwo Naukowe PWN [Wydawca] Wydanie: Wydanie I. Rodzaj materiału: Tekst; Format: druk ; Forma literacka: Tekst nieliteracki ; Przeznaczenie czytelnicze: Odbiorca wyspecjalizowany; Szczegóły wydania: Warszawa : Wydawnictwo Naukowe PWN, copyright 2023 Zasoby online: Spis treści Spis treści Status: Egzemplarze dostępne do wypożyczenia: Biblioteka Politechniki Poznańskiej (4)Lokalizacja, sygnatura: w czytelni CzO 203821, ... Niedostępny: Biblioteka Politechniki Poznańskiej: Wypożyczono (1).
		Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych : zarysy kształtu, falistość, mikro- i nanochropowatość / Stanisław Adamczak. autor Adamczak, Stanisław, (1948- ) [Autor] Wydawnictwo Naukowe PWN [Wydawca] Wydanie: Wydanie I, dodruk I. Rodzaj materiału: Tekst; Format: druk ; Forma literacka: Tekst nieliteracki ; Przeznaczenie czytelnicze: Odbiorca wyspecjalizowany; Szczegóły wydania: Warszawa : Wydawnictwo Naukowe PWN, 2023 Zasoby online: Spis treści Status: Egzemplarze dostępne do wypożyczenia: Biblioteka Politechniki Poznańskiej (3)Lokalizacja, sygnatura: w czytelni CzO 204287, ...
		Geometria powierzchni części maszynowych / Aleksander Tomaszewski. autor Tomaszewski, Aleksander Państwowe Wydawnictwa Techniczne [pbl] Rodzaj materiału: Tekst; Format: druk ; Forma literacka: Tekst nieliteracki ; Przeznaczenie czytelnicze: Odbiorca wyspecjalizowany; Szczegóły wydania: Warszawa : Państwowe Wydawnictwa Techniczne, 1955 Status: Egzemplarze dostępne do wypożyczenia: Biblioteka Politechniki Poznańskiej (1)Lokalizacja, sygnatura: zbiór archiwalny Mg 26157.
		Stereometria powierzchni : pomiary, badania, aplikacje : szóste konwersatorium / Politechnika Poznańska. Instytut Technologii Mechanicznej. Zakład Metrologii i Systemów Pomiarowych. autor Politechnika Poznańska. Zakład Metrologii i Systemów Pomiarowych Rodzaj materiału: Tekst; Format: druk ; Forma literacka: Tekst nieliteracki Szczegóły wydania: Poznań : Agencja Reklamowa COMPRINT, 2007 Status: Egzemplarze dostępne do wypożyczenia: Biblioteka Politechniki Poznańskiej (2)Lokalizacja, sygnatura: w czytelni A 156676, ... Zamów
		Science report - Project PL-1 Geometrical surface structure of machine parts, CEEPUS / general ed. Stanisław Adamczak, P. Herbert Osanna ; [reviewers S. Adamczak et al.] ; Kielce University of Technology. autor Adamczak, Stanisław, (1948- ) [Red.] Osanna, Peter Herbert, (1941-2015) [Red.] Politechnika Świętokrzyska (Kielce). Wydawnictwo [pbl] Rodzaj materiału: Tekst; Format: druk ; Forma literacka: Tekst nieliteracki ; Przeznaczenie czytelnicze: Odbiorca wyspecjalizowany; Język: angielski, niemiecki Język streszczenia: angielski, niemiecki Szczegóły wydania: Kielce : Wydawnictwo Politechniki Świętokrzyskiej, 2001 Status: Egzemplarze dostępne do wypożyczenia: Biblioteka Politechniki Poznańskiej (1)Lokalizacja, sygnatura: w czytelni A 141080.
		Problemy pomiaru i oceny geometrii powierzchni obrotowych części maszyn / Dariusz Janecki. autor Janecki, Dariusz Politechnika Świętokrzyska (Kielce). Wydawnictwo [pbl] Serie: Monografie, Studia, Rozprawy - Politechnika Świętokrzyska ; M32 \| Nauki Techniczne - Politechnika Świętokrzyska. Budowa i Eksploatacja Maszyn Rodzaj materiału: Tekst; Format: druk ; Forma literacka: Tekst nieliteracki ; Przeznaczenie czytelnicze: Odbiorca wyspecjalizowany; Język: polski Język streszczenia: angielski Szczegóły wydania: Kielce : Samodzielna Sekcja "Wydawnictwo Politechniki Świętokrzyskiej", 2012 Status: Egzemplarze dostępne do wypożyczenia: Biblioteka Politechniki Poznańskiej (1)Lokalizacja, sygnatura: w czytelni Cz 5036.