Nieniszczące metody i urządzenia do charakteryzacji warstw wysokooporowych / Tadeusz Łozowski.
Rodzaj materiału:
TekstSzczegóły wydania: Wrocław : Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej, 2001.Opis: 124 strony : ilustracje ; 24 cmISBN: - 8370855563
- Badania nieniszczące
- Dielektryki
- Fotoelektryczność
- Metody badawcze
- Mikroelektronika
- Optoelektronika
- Półprzewodniki
- Przetworniki
- Układ scalony cienkowarstwowy
- Zastosowanie i wykorzystanie
- Warstwy dielektryczne
- Warstwy cienkie półprzewodnikowe
- Próby nieniszczące
- Chemia
- Fizyka i astronomia
- Informatyka i technologie informacyjne
- Inżynieria i technika
| Typ dokumentu | Obecna biblioteka | Kolekcja | Sygnatura | Status | Kod kreskowy | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Magazyn - Wypożyczane na zewnątrz z kolekcji MG | Biblioteka Politechniki Poznańskiej na półce | magazyn główny | Mg 141541 | Dostępny | 0000017431 | |
| Niewypożyczane | Biblioteka Politechniki Poznańskiej w czytelni | Czytelnia | A 141286 | Dostępny | 0000014970 |
Liczba zamówień: 0
Bibliografia na stronach 114-124.